ГОСТ 7727-81

ГОСТ 7727–81 알루미늄 합금. 분광 분석 방법 (변경 N 1, 2 포함)

ГОСТ 7727−81

그룹 B59

국가간 표준

알루미늄 합금

분광 분석 방법

Aluminium alloys. Methods of spectral analysis

ОКСТУ 1709

시행일 1982−07−01

정보 사항

1. 개발·제출: 소련 항공공업부

2. 승인·시행: 소련 국가표준위원회 결의 15.06.81 N 2942

3. 대체: ГОСТ 7727−75

4. 인용 규범·기술 문서

참조된 규범·기술 문서 표기	항목 번호
ГОСТ 8.315−97	1.2
ГОСТ 83−79	2.2
ГОСТ 195−77	2.2
ГОСТ 244−76	2.2
ГОСТ 1583−93	부록
ГОСТ 2789−73	2.3
ГОСТ 3773−72	2.2
ГОСТ 4160−74	2.2
ГОСТ 4784−97	부록
ГОСТ 6709−72	2.2
ГОСТ 11069−74	2.2, 2.3
ГОСТ 11739.1−90	1.4
ГОСТ 11739.2−90	1.4
ГОСТ 11739.3−99	1.4
ГОСТ 11739.4−90	1.4
ГОСТ 11739.5−90	1.4
ГОСТ 11739.6−99	1.4
ГОСТ 11739.7−99	1.4
ГОСТ 11739.8−90	1.4
ГОСТ 11739.10−90	1,4
ГОСТ 11739.11−98	1.4
ГОСТ 11739.15−99	1.4
ГОСТ 11739.16−90	1.4
ГОСТ 11739.19−90	1.4
ГОСТ 11739.20−99	1.4
ГОСТ 11739.21−90	1.4
ГОСТ 11739.22−90	1.4
ГОСТ 11739.23−99	1.4
ГОСТ 11739.24−98	1.4
ГОСТ 19627−74	2.2
TU 6−09−1457−87	2.2

5. 유효기간 제한은 국가표준위원회 결의 02.04.92 N 357에 의해 해제됨

6. 판(2002년 8월) 변경 N 1, 2 (1986년 12월, 1992년 4월 승인) (ИУС 3−87, 7−92)


본 표준은 주조용 및 변형 가공 알루미늄 합금에서의 합금 원소 및 불순물(구리, 마그네슘, 망간, 철, 규소(실리콘), 티타늄, 아연, 바나듐, 리튬, 카드뮴, 베릴륨, 니켈, 크롬, 지르코늄, 세륨, 나트륨, 납, 주석, 안티몬, 비소, 붕소)의 함량을 분광 분석 방법으로 결정하는 절차를 규정한다.

1. 일반 요구사항

1.1. 합금 중 합금원소 및 불순물의 함량은 표준 시료(СО)를 이용해 작성한 보정(교정) 그래프에 따라 결정한다. 기기 보정에는 두 가지 방법을 사용한다: '세 표준' 방법과 '대조 표준' 방법.

스펙트럼의 기록은 사진식 또는 광전식이다.

사진법으로 분석할 때 보정 그래프는 다음 좌표로 작성한다:

,

여기서 — 측정 원소 선과 비교 원소 선의 흑화도 차이;

— 표준시료(СО)에서의 측정 원소의 질량분율;

— 측정 원소 선과 비교 선의 상대 세기(강도).

광전법으로 분석할 때 보정 그래프는 다음 좌표로 작성한다:

; ; ,

여기서 — 출력 측정 장치의 지시값이다.

1.2. 분석 시 다음의 국가표준 시료(GSO) 번호들을 사용한다: N 484−74 — 490−74; 532−74 — 538−74; 584−74 — 588−74; 748−75 — 752−75; 958−76 — 961−76; 1062−76 — 1069−76; 1161−77 — 1165−77; 1196−77 — 1199−77; 1200−77 — 1205−77; 1206−77 — 1211−77; 1212−77 — 1217−77; 1251−77 — 1255−77; 1305−78 — 1308−78; 1620−79 — 1623−79; 1672−79 — 1676−79; 1884−80 — 1887−80; 1888−80 — 1890−80; 2201−81 — 2206−81; 2821−83 — 2825−83; 2877−84 — 2880−84; 3225−85 — 3234−85; 3430−86 — 3434−86; 3697−87 — 3703−87; 4219−88 — 4222−88; 4234−88 — 4238−88; 4344−88 — 4348−88; 4413−88 — 4419−88; 5047−89 — 5050−89; 5067−89 — 5071−89; 5276−90 — 5279−90; 5383−90 — 5389−90; 산업별 표준 시료(OSO) N 4−85 — 8−85; 8−84 — 11−84; 12−84 — 16−84; 16−81 — 20−81; 17−84 — 19−84; 21−81 — 25−81; 26−81 — 29−81; 53−82 — 57−82; 58−82 — 61−82; 66−83 — 73−83; 371−88 — 376−88; 391−89 — 394−89; 411−90 — 414−90.

또한, ГОСТ 8.315 요구사항에 부합하는 모든 범주의 신규 발행 알루미늄 합금 표준시료에 대해 기업표준시료(SOP)의 적용을 허용한다.

(수정판, 변경 N 2).

1.3. 시료 채취는 규범·기술 문서에 따라 수행한다.

1.4. 원소의 질량분율 산정의 정확성 검증은 대조 시료를 사용하여 수행하며, 분광분석 결과를 화학적 방법(ГОСТ 11739.1 — ГОСТ 11739.24)에 의해 얻은 분석결과와 비교하여 분기마다 최소 한 번 이상 검사한다.

허용되는 절대 차의 값은 다음 식으로 계산한 값을 초과해서는 안 된다

,

여기서 — 화학적 방법으로 분석한 시료의 분석값(%);

— 분광법으로 분석한 시료의 분석값(%);

— 분광분석 결과의 재현성을 나타내는 표준편차;

— 화학분석 결과의 재현성을 나타내는 표준편차.

(수정판, 변경 N 1, 2).

2. 사진법에 의한 분광 분석

2.1. 방법의 본질

이 방법은 합금의 스펙트럼을 아크 방전 또는 스파크 방전으로 여기고, 스펙트로그라프를 이용하여 사진판(감광판)에 기록하는 데에 기반한다.

2.2. 장비, 재료 및 시약

석영(쿼츠) 광학을 갖는 중분산형 스펙트로그라프, 형식 ИСП-30.

스파크 발생기 형식 ИГ-3 또는 ИВС-23, 또는 아크형 형식 ДГ-2 또는 ИВС-28.

미크로포토미터 형식 МФ-2 및 ИФО-460.

3단 및 9단 감쇠기.

스펙트럼용 전극봉(угли) марки ОСЧ-7−3, С-2, С-3, 직경 6 mm의 봉 형태.

알루미늄 봉 A99, A97 (ГОСТ 11069에 따름), 직경 3−8 mm.

분광용 감광판 유형 1, 2, 3, ЭС, УФШ, ПФС-01, ПФС-02, ПФС-03, ПФС-04, ПФС-05, 감도 3에서 20 단위.

탁상형 선반 TV-16.

전극봉 연마용 장치.

현상액(두 가지 용액으로 구성).

용액 I:

증류수(ГОСТ 6709에 따름) — 1000 cm;

메톨(파라메틸아미노페놀 황산염) — 2 g;

나트륨 아황산염 7수화물 (TU 6−09−1457*에 따름) — 104 g 또는 나트륨 아황산염 (ГОСТ 195에 따름) — 52 g;
________________
* 문서는 저자 개발 자료임. 추가 정보는 해당 링크 참조. — 데이터베이스 제작자 주.

하이드로퀴논(파라디옥시벤젠) (ГОСТ 19627에 따름) — 10 g;

브로민화 칼륨 (ГОСТ 4160에 따름) — 2 g.

용액 II:

증류수(ГОСТ 6709에 따름) — 1000 cm;

탄산나트륨 (ГОСТ 83에 따름) — 54 g.

현상 전에는 용액 I과 II를 3:1의 비율로 혼합한다.

정착액(픽서):

증류수(ГОСТ 6709에 따름) — 1000 cm;

나트륨 티오설페이트 결정(ГОСТ 244에 따름) — 300 g;

염화암모늄(ГОСТ 3773에 따름) — 60 g.

본 표준에서 규정한 계측학적 특성을 확보할 수 있는 경우에는 기타 기기, 장비, 재료 및 시약의 사용을 허용한다.

2.3. 분석 준비

분석에는 연마한 시료를 사용하며, 원형 또는 정사각 단면의 봉(직경 5〜50 mm, 길이 30−100 mm), 형상 프로파일, 지름이 2 mm 이상인 디스크·스트립, '머시룸(грибки)' 형태(모자 지름 30−50 mm, 두께 5 mm 이상)를 사용한다.

해당 크기의 기업표준시료(SOP)가 있는 경우에는 더 작은 치수의 시료 사용을 허용한다.

Обыскриваемую поверхность образцов затачивают на плоскость механической обработкой. Параметр шероховатости поверхности должен быть не более 20 мкм по ГОСТ 2789. С образцов в виде «грибка», полученных заливкой металла в кокиль, снимают с нижней стороны (со шляпки) слой 1,5−2 мм; с прутковых образцов диаметром 5−10 мм, полученных заливкой металла в кокиль, снимают 5−10 мм. Если литой пруток имеет плоский торец, допускается снятие металла с торца на глубину 0,2−0,5 мм.

Подготовка анализируемых образцов (АО) и СО к анализу должна быть однотипной для данной серии измерений. На обработанной поверхности не допускаются раковины, царапины, трещины и шлаковые включения.

Противоэлектроды затачивают на сферу радиусом 3−6 мм, конус с углом заточки 120° или усеченный конус с площадкой диаметром 1−2 мм с углом заточки 40−60°.

2.4. Проведение анализа

Условия проведения анализа фотографическим методом на спектрографе типа ИСП-30 приведены в табл.1.

Таблица 1

Аппаратура, материалы и контролируемые параметры	Условия проведения анализа
	, , , , , , , , , , , , , во всех сплавах. Примеси , , , , при их массовой доле >0,1%	, и примеси , , , , при их массовой доле <0,1%	и примеси , , ,	Церий
Ширина щели спектрографа, мм	0,015−0,025	0,015−0,025	0,015	0,015−0,020
Генератор, тип	ИГ-3, ИВС-23 (схема сложная или простая)	ДГ2, ИВС-28	ДГ2, ИВС-28	ИГ3, ИВС-23 (схема сложная)
Емкость, мкФ	0,005−0,01	-	-	0,01
Самоиндукция, мГн	0; 0,01; 0,05	-	-	0
Сила тока, А	1,5−2,5	2−3	5−7	2−3
Аналитический промежуток, мм	2,0−2,5	1,5−2,0	1,5−2,0	2,0
Задающий промежуток разрядника, мм	3,0	0,5−0,9	0,5−0,9	3,0
Число цугов	1; 2	-	-	1, 2
Обжиг, с	30−90	5−10	5−10	Без обжига
Противоэлектрод		Угольный или алюминиевый
Фотопластинки, тип	1, 2, ЭС	2, ЭС, УФШ		1, 2, ЭС
Система координат

Примечания:

1. Время экспозиции устанавливают в зависимости от чувствительности фотопластинок; оно должно быть не менее 15 с

2. При определении церия для получения одной спектрограммы используют две экспозиции с зачищенных участков образца (по 30 с каждая).

3. Допускается проведение анализа с применением парных электродов с заточкой одного из электродов на плоскость.

4. При анализе листов и прутков с размерами меньшими, чем предусмотрено настоящим стандартом, допускается выбор других режимов работы источников света и применение СОП соответствующих АО.


Длины волн аналитических спектральных линий и диапазоны определяемых массовых долей приведены в табл.2.

Таблица 2

________________
* Линию бериллия 313,04 нм используют для анализа сплавов, не содержащих ванадий.
** Линию бора 249,77 нм используют для анализа сплавов, не содержащих железа.
*** Линию кремния 251,61 нм используют для анализа сплавов, не содержащих титан.

Примечания:

1. Спектральные линии элементов, ограниченные в таблице парантезом, могут быть в соответствии с указанными диапазонами массовых долей объединены в аналитические пары с линиями сравнения в зависимости от выбранных условий анализа.

2. 파장 값 앞의 로마 숫자 I는 선이 중성 원자에 속함을 의미하고, 숫자 II는 단일 이온화된 원자에 속함을 의미한다.

3. 비교선으로 배경(фон)을 사용하는 경우에는 그 배경을 측정 대상 원소의 선 근처에서 측정한다.


«세 가지 표준 시료(трех эталонов)» 방법에 의한 분석을 수행할 때는 분석 대상 합금의 표준 시료(СО)를 최소 세 개 선택하고, 선택된 분석 조건에서 СО와 분석 시료(АО)의 스펙트럼을 한 장의 사진판에 촬영하되 촬영 순서를 무작위화한다. 각 СО와 АО에 대해 세 개의 스펙트럼을 촬영한다.

선택한 분석선과 비교선의 암화(почернения) 를 측정하고, 분석 선 쌍에 대한 암화 차이 의 값을 계산한 다음, 세 스펙트럼에 대한 산술 평균 를 구한다.

다음 좌표에 교정 그래프(градуировочный график)를 작성한다: .

이 그래프는 동일한 사진판에서 СО와 함께 스펙트럼이 촬영된 시료들에 대한 분석에 적합하다.

분석 시료(АО)의 원소 함량은 교정 그래프에서 구한다.

노출 시간은 모든 분석선의 적절한 암화가 확보되도록 선택한다.

미량 질량 분율 분석에서는 언더레인지(недодержек) 영역에서 정밀하게 작성된 특성 곡선(характеристическая кривая)을 사용하는 것이 허용된다. 이 경우 교정 그래프는 다음 좌표에서 작성한다:

,

여기서 는 측정 대상 원소 선의 강도(인텐시티);

는 비교선 또는 측정 대상 원소 선 근처의 배경 강도이다.

«대조 표준(контрольного эталона)» 방법에 의한 분석을 수행할 때에는, 기본 교정 그래프를 작성하는데 사용하는 표준 시료 외에 기업 표준 시료(стандартный образец предприятия, СОП)를 사용한다. 이 СОП은 다음 조건을 만족해야 한다:

- 화학 조성은 해당 합금에 대한 규격 문서에 명시된 질량 분율 범위의 가운데에 가능한 한 가깝거나, 분석 시료(АО)의 평균 화학 조성에 가깝게;

- 물리적 성질, 형상 및 치수는 СОП가 분석 시료(АО)에 최대한 근사하도록 한다.

작업은 기본 교정 그래프를 작성하는 것부터 시작한다. 이를 위해 하나의 사진판에 해당 합금의 СО 스펙트럼과 СОП 스펙트럼을 함께 촬영한다. 각 СО와 СОП의 스펙트럼은 다섯 번씩 촬영한다. 암화 차이의 평균값을 사용하여 기본 사진판의 교정 그래프를 다음 좌표에 작성한다: .

알루미늄 합금 시료를 분석할 때 작업 사진판에는 분석 시료(АО)의 스펙트럼을 각각 세 번씩, СОП의 스펙트럼을 네 번씩 촬영한다. СОП 및 АО에 대해 분석선 쌍의 암화 차이( 및 )를 각각 해당 스펙트럼 수에 대한 평균으로 결정한다. 값 에 대해 사진유(emulsion)의 성질을 고려한 변환 계수(переводной коэффициент) 를 곱한다. 사진유 성질을 고려하여 도입되는 변환 계수 는 다음 식으로 계산한다:

,

여기서 는 기본 사진판에 대해 몇 개의 СО 및 СОП 스펙트럼으로 계산한 보조 알루미늄 선 쌍의 암화 차이 또는 약화 필터의 두 단계에 대한 알루미늄 선의 암화 차이(단, 와 사이에 체계적 편차가 없는 경우);

는 작업 사진판에 대해 СОП와 АО로부터 계산한 동일한 알루미늄 선 및 동일 약화 필터 단계들의 암화 차이이다.

계수 를 계산할 때에는 알루미늄 선 쌍 265.24 nm — 256.79 nm 및 305.00 nm — 305.71 nm 등과 같은 알루미늄 선 쌍을 사용한다.

좌표가 ; (여기서 는 СОП의 원소 질량 분율)인 점을 통해 기본 그래프와 병행하는 작업 그래프를 그리고, 값을 이용하여 АО의 질량 분율을 결정한다.

표준 시료들의 스펙트럼이 기본 사진판에서 촬영된 경우에 대해서는 일정한(고정된) 교정 그래프를 사용할 수 있다. 이때 교정 그래프는 다음 좌표에서 작성된다: .

작업 사진판에는 АО와 СОП의 스펙트럼을 촬영한다.

АО의 원소 질량 분율은 고정 교정 그래프를 사용하여 값을 이용해 결정한다.

계산을 단순화하기 위해 교정 그래프를 인위적으로 45°로 조정할 수 있다. 이 경우 계수 대신 다음 계수를 사용한다:

,

여기서 는 좌표 또는 에서 작성된 기본 사진판 교정 그래프의 기울기 각도이며, 교정 그래프는 원래 그래프(직선)가 x축과 교차하는 점으로부터 45° 각도로 그린다.

2.2–2.4. (수정 편집, 수정 N 1, 2).

2.5. 결과 처리

2.5.1. 분석의 최종 결과는 세 개의 스펙트로그램에서 얻은 세 번의 병렬 측정의 산술 평균으로 한다. 다만 다음 조건이 만족될 경우에 한한다:

;

여기서 는 병렬 측정치 중 최대값;

는 병렬 측정치 중 최소값;

는 측정의 수렴성을 특징짓는 상대 평균 제곱근 편차(상대 표준편차)이다;

 — 산술평균으로서, 개의 병렬 측정값으로부터 계산한 값(=3).

급속(속효) 분석을 수행하거나 원소의 질량분율이 1% 미만인 경우에는 두 번의 병렬 측정( 및 )으로 분석결과를 계산할 수 있다. 단, 의 조건을 만족해야 한다.

(수정된 편집, 수정 N 1, 2).

2.5.2. 만약 분석결과와 해당 합금에 대한 원소 함량의 한계값 중 하나와의 차이가 절대값으로서 다음의 값 이하이면

,

여기서  — 결정 횟수(=1 또는 2);

 — 분석의 재현성을 나타내는 상대적 평균제곱근편차(상대표준편차);

 — 한 번 또는 두 번의 결정으로부터 얻은 평균 분석결과이다.

분석은 항목 1.4에 명시된 화학적 방법 및 표준에 따라 수행한다.

(수정된 편집, 수정 N 1).

2.5.3. 사진(포토그래픽) 분석법에 대한 및 값은 표 3에 제시되어 있다.

(수정된 편집, 수정 N 1, 2).

표 3

분석 대상 원소	측정 가능한 질량분율 범위, %	사진(포토그래픽)법		광전자(포토일렉트릭)법
		이하 값 이하
베릴륨, 비소, 안티모니, 나트륨	0.0005−0.01	0.15	0.15	0.15	0.15
베릴륨, 붕소, 바나듐, 철, 카드뮴, 칼슘, 규소, 마그네슘, 망간, 구리, 니켈, 주석, 납, 스칸듐, 안티모니, 티타늄, 크롬, 아연, 지르코늄	0.01−0.1	0.10	0.10	0.08	0.08
베릴륨, 바나듐, 철, 카드뮴, 칼슘, 규소, 마그네슘, 망간, 구리, 니켈, 티타늄, 크롬, 주석, 납, 스칸듐, 아연, 지르코늄	0.1−0.5	0.06	0.05	0.05	0.04
베릴륨, 철, 규소, 리튬, 마그네슘, 망간, 구리, 니켈, 티타늄, 아연, 세륨	0.5−2.0	0.05	0.04	0.04	0.03
규소, 리튬, 마그네슘, 구리, 니켈, 아연, 철, 망간	2.0−5.0	0.05	0.04	0.04	0.03
규소, 마그네슘, 구리, 아연	5.0−15.0	0.04	0.03	0.03	0.03

2.5.4. 및 의 계산 방법은 부록에 제시되어 있다.

3. 광전자(포토일렉트릭) 스펙트럼 분석법

3.1. 본 방법은 아크 또는 스파크 방전을 통해 스펙트럼을 여기시킨 후 광전자 장치를 사용하여 분광선의 강도를 기록하는 것에 기초한다.

3.2. 장비 및 재료

광전자 장치(퀀토미터) 유형: ДФС-10М, ДФС-36, МФС-4, МФС-6, МФС-8.

발생기(제너레이터) 유형: ИГ-3, ГЭУ-1, УГЭ-4, ИВС-1, ИВС-28, "Аркус".

스펙트럼용 순수 탄소 전극 марки: ОСЧ-7–3, С2, С3, 직경 6 mm 막대형.

알루미늄 전극 막대: 마크 А99, А97 (ГОСТ 11069), 직경 6–8 mm.

선반(선반형 기계) 타입 ТВ-16.

탄극 연마용 장치.

본 표준이 요구하는 계량학적 특성을 얻을 수 있다면 다른 장비, 기구 및 재료의 사용을 허용한다.

(수정된 편집, 수정 N 1).

3.3. 시료 준비

시료는 항목 2.3에 따라 준비한다.

3.4. 분석 수행

분석은 "세 기준표준(three standards)" 방법 또는 "검정표준(control standard)" 방법에 따라 수행한다.

분석 조건은 표 4에 제시되어 있다.

표 4

제어되는 매개변수	분석 수행 조건
	퀀토미터 ДФС-10М 발생기 ГЭУ-1		퀀토미터 ДФС-36 발생기 УГЭ-4					퀀토미터 МФС-4, МФС-6, МФС-8
	발생기 "Аркус"		발생기 ИВС-23, ИГ-3
	아크 모드	저전압 스파크 모드	아크 모드		저전압 스파크 모드		고전압 스파크 모드	아크 모드	저전압 스파크 모드	고전압 스파크 모드
전원 전압, V	220±5
전류 강도, A	1.6−4.0	1.5−2.0	1.6−4.0		1.5−2.5		1.5−2.5	1.0−4.0	1.5−2.0	1.5−2.5
제어 방법	위상 제어(Phase)				진폭 제어(Amplitude)			위상 제어(Phase)		-
점화 위상, deg	-	90		-	제어되지 않음			90	90	제어되지 않음
정전용량, μF	-	20; 40		-	20; 40		0; 0.003; 0.005; 0.01	-	40	0.01
유도성(인덕턴스), μH	-	10; 40; 150		-	10; 40; 150		0; 20; 150; 600	-	-	10
펄스 수(수행 횟수)	-	1		-	1; 2		1; 2; 3; 4	-	1	1; 2
분석 간격(분석 간격 거리), mm	1.5−2.0									2.0−2.5
추가 방전(스파크) 간격, mm	-	-		-	-		3.0; 5.0	-	-	3.0−4.0
입구 슬릿 폭, mm	0.02−0.06
출구 슬릿 폭, mm	0.035−0.20*
예열(버닝) 시간, s	7−10	10−20		7−10		10−20	5−30	20−30	10−20	20−30
노출 시간(노광), s	20−40	20−40		20−40		20−40	20−60	30	20−40	20−30
대전극(대전극재)	탄소(석탄) 또는 알루미늄
좌표계 시스템								또는

________________
* 출구 슬릿 폭은 원소의 질량분율 및 합금의 합금화 정도에 따라 선택한다.


분석용 스펙트럼선의 파장과 측정 가능한 질량분율 범위는 표 5에 제시되어 있다.

표 5

분석 대상 원소	해당 원소 선의 파장, nm	측정 가능한 질량분율 범위, %
베릴륨	II 313.04	0.0005−0.2
붕소	I 249.68	0.01−0.05
바나듐	I 437.92	0.01−0.5
	I 318.34	0.05−0.5
	311.07	0.01−0.5
철(Fe)	I 440.47	0.05−2.0
	I 358.12	0.1−2.0
	I 302.06	0.05−2.0
	II 259.94	0.01−2.0
	239.56	0.1−0.5
규소(Si)	I 390.55	0.5−11.0
	I 288.16	0.1−11.0
	I 252.85	5.0−15.0
	I 251.61	0.1−11.0
카드뮴(Cd)	I 508.58	0.1−1.0
	II 226.50
리튬(Li)	I 670.78	0.1−2.5
	I 610.36
	I 497.20
	I 460.29
	I 323.26
마그네슘(Mg)	I 518.36	0.03−7.0
	I 517.27	0.1−7.0
	I 285.21	0.01−1.0
	280.27	0.01−1.0
	II 279.08	0.01−7.0
	277.98	0.1−0.5
구리(Cu)	I 521.82	0.06−7.0
	I 510.55	0.1−6.0
	I 327.40	0.01−1.0
	II 236.99	1.0−7.0
	II 213.59	0.5−7.0
비소(As)	I 234.98	0.01−0.1
망간(Mn)	293.31
	II 259.37	0.01−2.0
나트륨(Na)	I 588.99	0.0005−0.01
니켈(Ni)	I 341.48	0.04−3.0
	II 231.60	0.01−2.0
주석(Sn)	I 380.10	0.01−0.3
	I 317.50
	I 286.33
납(Pb)	I 405.78	0.02−0.2
	I 283.30
안티모니(Sb)	I 323.25	0.01−0.1
	I 252.85
	I 231.15
티타늄(Ti)	I 498.17	0.01−0.5
	I 453.32	0.02−0.2
	I 365.35	0.02−0.8
	337.28	0.01−2.0
	II 334.90	0.02−2.0
크롬(Cr)	I 425.43	0.01−0.5
	II 283.56
아연(Zn)	481.05	0.01−5.0
	472.22	1.0−9.0
	I 334.50	0.01−9.0
지르코늄(Zr)	II 343.82	0.01−0.5
	II 339.20

참고. 비교선(comparison lines)으로 알루미늄 선을 사용한다: I 396.15; I 394.40; I 360.17; I 305.01; I 266.04; I 256.80 또는 분해되지 않은(넓은) 빛(백색광).


분석선은 시료 내 원소의 질량분율과 퀀토미터 카트리지 상에 출구 슬릿을 배치할 수 있는 가능성에 따라 선택한다. 계량학적 특성을 만족하는 한 다른 분석선의 사용을 허용한다.

"세 기준표준" 방법으로 분석할 경우 AO(испытуемый образец, 시험시료)의 원소 함량은 기준표준(SO)에 따라 작성된 검량곡선을 사용하여 결정한다.

측정 장치의 표시값이 분광선의 강도의 로그에 비례하는 기기에서는 검량곡선을 다음 좌표계에서 작성한다: .

각 SO 및 AO 스펙트럼은 최소 세 번 이상 기록한다.

"검정표준" 방법으로 분석할 때 I형 기기에서는 기본 검량곡선을 다음 좌표계에서 작성한다: . AO를 분석할 때 SO 및 AO의 스펙트럼을 기록한다. 좌표가 ; 인 점을 통해 작업용 검량곡선을 본선과 평행하게 작성하고, 이로부터 AO 내 원소의 질량분율을 결정한다.

II형 기기에서 "검정표준" 방법으로 분석할 경우에는 SO의 스펙트럼을 기록하고 평균 판독값으로부터 다음 좌표계에서 검량곡선을 작성하여 농도축과의 교점을 연장한다: . 이 교점이 검량곡선의 "회전점"이 되며, 이는 해당 채널에서 기기의 "영(0) 판독"이 일정하고 검량곡선이 직선일 때 적용된다.

시료 분석 전에 SOP(검증표준)의 스펙트럼을 기록하고, 좌표가 ; 인 점과 "회전점"을 통해 작업 검량곡선을 그려 AO의 원소 질량분율을 결정한다.

검량곡선을 좌표계 에 작성하는 경우에는 작업곡선을 기본곡선과 평행하게 그리고, 좌표가 ; 인 점을 통과하도록 하여 AO의 원소 질량분율을 결정한다.

(수정된 편집, 수정 N 1, 2).

3.5. 결과 처리

3.5.1. 분석 결과의 처리는 항목 2.5.1 및 2.5.2에 따라 수행한다.

3.5.2. 사진(포토그래픽) 분석법에 대한 및 값은 표 3에 제시되어 있다.

(수정된 편집, 수정 N 1).

부록 (의무). 스펙트럼 분석의 정확도 평가

부록
의무사항

1. 스펙트럼 분석의 정확도(정밀도 및 정확성)는 측정값 결과가 참값에 얼마나 근접한지를 반영하는 측정 품질로, 편차가 계산에서 제외된 조건 하에서 체계적 오차와 우연적 오차의 크기에 의해 결정된다(우연적 오차는 정규 분포를 따름).

2. 스펙트럼 장비가 적절히 조정되고 본 표준의 분석 절차 권고가 준수될 때, 주요한 체계적 오차의 원천은 시료의 조직(structure)과 화학 조성의 영향에 따른 오차이다.

이러한 오차는 화학적 방법과 스펙트럼 방법으로 수행한 충분한 표본(최소 20개 이상)의 분석결과를 비교함으로써 밝혀야 한다.

이러한 오차의 존재가 확인되면, SOP(표준 검증 표준)에 대한 검량곡선의 위치를 보정하여 이를 제거해야 한다.

3. 예를 들어 세 번(또는 두 번)의 병렬 측정으로 얻은 시료 분석결과의 산술평균은, 즉 세(또는 두) 스펙트럼으로부터 얻은 값은 하나의 결정(하나의 판정)으로 간주한다.

4. 스펙트럼 분석 결과의 재현성은 서로 다른 조건에서 수행된 측정결과들이 서로 얼마나 근접한지를 나타내는 측정품질로, 단일 결정에 대한 상대적 평균제곱근편차(상대표준편차) 로 특성화된다.

5. 를 산출하기 위해서는, 동일한 마크의 합금에서 대략 동일한 화학조성을 가지는 시료를 적어도 5개 선택하고, 5일간(하루에 한 시리즈) 시리즈로 분석을 수행한다.

각 시리즈에서 스펙트럼 기록 순서는 무작위화(randomization)하여 서로 다른 순서로 수행한다.

한 시리즈의 스펙트럼은 한 장의 사진판(포토플레이트)에 기록한다.

각 사진판에서 각 시료의 스펙트럼을 3회씩 얻고, 각 기준표준(S.O.)의 스펙트럼도 3회씩 얻는다. 후자는 검량곡선 작성 또는 보정에 필요하다.

광전자식 기록의 경우 측정 시작 전에 검량곡선의 위치 보정을 수행한 후 시료의 스펙트럼을 기록한다.

각 시료로부터 5일간 총 15회의 측정(5개의 결정)을 얻는다.

각 시료에 대해 다음의 공식으로 표준편차 를 계산한다.

, (1)

여기서  — i번째 시료에 대해 5개의 결정으로부터 계산한 평균 질량분율;

 — i번째 시료의 j번째 결정에 대한 질량분율(각 결정은 3회의 측정으로부터 계산됨);

 — 결정 횟수(=5).

각 시료별로 표준편차 는 다음 공식으로 계산한다.

, (2)

여기서 , ,…  — 식(1)에 따라 각각 1번, 2번 … 표본에 대해 산출된 표준편차;

 — 표본 수(샘플 수, =5).

재현성을 특징짓는 상대적 평균제곱근편차 는 다음 공식으로 계산한다.

, (3)

여기서  — 식(4)에 의해 계산된 샘플들에 대한 평균 질량분율

, (4)

여기서 , ,…  — 각각 1번, 2번 … 표본에 대해 5회의 결정으로부터 계산된 원소의 질량분율이다.

재현성의 관리는 3–6개월에 한 번 수행하는 것이 권장된다. 이때 얻어진 값은 표 3에 제시된 값보다 크지 않아야 한다.

(수정된 편집, 수정 N 1).

6. 일치도(수렴성, repeatability) — 동일한 조건에서 수행된 측정결과들이 서로 얼마나 근접한지를 나타내는 측정품질 — 는 단일 측정의 상대적 평균제곱근편차 로 특성화된다.

7. 값은 장비가 올바르게 조정된 경우 단일 시료에 대한 20회 병렬 측정의 시리즈에서 구한다.

표준편차 는 다음 공식으로 계산한다.

, (5)

여기서  — 20회 병렬 측정으로부터 계산한 시료의 평균 질량분율;

 — i번째 측정에서 계산된 시료의 질량분율;

 — 시리즈 내 측정 횟수(=20).

측정의 수렴성(일치성)을 나타내는 상대적 평균제곱근편차 는 다음 공식으로 계산한다.

. (6)

8. 분석을 수행할 때 분석결과의 오차와 신뢰구간을 평가할 필요가 자주 발생한다. 신뢰수준 0.95 및 체계적 오차가 배제된 경우 는 다음 공식으로 계산한다.

, (7)

여기서  — 분석결과가 계산된 결정 횟수(보통 스펙트럼 분석에서는 =1 또는 2);

 — 분석결과(결정들로부터 계산된 값).

계산된 값은, 신뢰도 95%에서 참값이 다음 구간 내에 있을 것이라는 것을 의미한다:

및 ,

가장 개연성이 높은 분석결과는 이다.

만약 신뢰구간이 (ГОСТ 1583 및 ГОСТ 4784에 의해) 규정된 측정 가능한 값과 겹치면, 더 정확한 다른 방법으로 분석을 수행하는 것이 권장된다.

9. 검량곡선의 기본곡선으로부터의 이동(드리프트, 수준의 SOP)은 네 번의 측정으로부터 얻어진 표준편차보다 크면 유의한 것으로 간주되며, 즉 이면 그래프 보정(조정)이 필요하다.

여기서  — SOP의 위치를 모니터할 때 사용되는 병렬 측정의 수(=4);

 — SOP에서의 원소 질량분율이다.

검량곡선의 위치는 교대당 1–2개의 SOP로 1–3회 점검하는 것이 권장된다.

10. 스펙트럼 여기 발생기(generator), 스펙트럼 기기 및 전자 측정 장치의 종합적인 성능 평가는 주기적으로 다음과 같이 실시하는 것이 권장된다: 20회 병렬 측정의 시리즈에 대해 공식(5)와 (6)에 따라 상대적 평균제곱근편차 를 결정한다.

구해진 값은 이전에 조정된 장비로 계산된 평균표준편차 와 비교한다. 비교는 F-검정(-기준)으로 수행한다. 만약 값이 표에 제시된 임계값 보다 크면 장비 조정이 필요함을 나타낸다.

신뢰수준 0.95 및 시리즈 내 측정횟수(=20)에서 임계값은 약 2.1이다.

이 검사를 1–3개월에 한 번 수행하는 것이 권장된다.

(수정된 편집, 수정 N 1, 2).