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ГОСТ 27981.3-88

ГОСТ R 57376-2016 ГОСТ 193-2015 ГОСТ 27981.5-2015 ГОСТ 27981.2-2015 ГОСТ 27981.1-2015 ГОСТ 13938.11-2014 ГОСТ R 56240-2014 ГОСТ 859-2014 ГОСТ R 55685-2013 ГОСТ R 54922-2012 ГОСТ Р 54310-2011 ГОСТ 31382-2009 ГОСТ Р 52998-2008 ГОСТ 859-2001 ГОСТ 6674.4-96 고СТ 6674.3-96 ГОСТ 6674.2-96 ГОСТ 6674.1-96 ГОСТ 4515-93 ГОСТ 28515-97 ГОСТ 17328-78 ГОСТ 614-97 ГОСТ 15527-70 ГОСТ 13938.13-77 ГОСТ 13938.13-93 ГОСТ 1020-77 ГОСТ 5017-2006 ГОСТ 1652.11-77 GOST 15027.12-77 ГОСТ 15027.11-77 ГОСТ 493-79 ГОСТ 1953.9-79 ГОСТ 23859.2-79 ГОСТ 1953.5-79 ГОСТ 1953.3-79 ГОСТ 1953.12-79 ГОСТ 1953.6-79 ГОСТ 15027.18-86 ГОСТ 27981.2-88 ГОСТ 27981.5-88 ГОСТ 15027.5-77 ГОСТ 1652.12-77 ГОСТ 15027.8-77 GOST 1652.7-77 ГОСТ 15027.6-77 ГОСТ 15027.7-77 ГОСТ 1652.2-77 ГОСТ 1652.4-77 ГОСТ 15027.2-77 ГОСТ 1652.8-77 ГОСТ 1652.3-77 ГОСТ 13938.6-78 ГОСТ 13938.7-78 ГОСТ 13938.1-78 ГОСТ 13938.2-78 ГОСТ 13938.4-78 ГОСТ 13938.8-78 ГОСТ 13938.10-78 ГОСТ 13938.12-78 ГОСТ 23859.8-79 ГОСТ 1953.1-79 ГОСТ 613-79 ГОСТ 9716.2-79 ГОСТ 23912-79 ГОСТ 23859.1-79 ГОСТ 23859.4-79 ГОСТ 1953.2-79 ГОСТ 20068.1-79 ГОСТ 9717.3-82 ГОСТ 9717.1-82 ГОСТ 27981.4-88 ГОСТ 28057-89 ГОСТ 6674.5-96 ГОСТ 23859.11-90 ГОСТ 24978-91 GOST 15027.14-77 ГОСТ 15027.10-77 ГОСТ 15027.4-77 ГОСТ 1652.6-77 ГОСТ 1652.10-77 ГОСТ 15027.9-77 ГОСТ 13938.5-78 ГОСТ 13938.11-78 ГОСТ 18175-78 ГОСТ 13938.3-78 ГОСТ 23859.6-79 ГОСТ 1953.4-79 ГОСТ 1953.8-79 ГОСТ 1953.7-79 ГОСТ 23859.9-79 ГОСТ 1953.11-79 ГОСТ 1953.15-79 ГОСТ 1953.10-79 ГОСТ 1953.16-79 ГОСТ 23859.5-79 ГОСТ 23859.3-79 ГОСТ 9716.3-79 ГОСТ 1953.14-79 ГОСТ 15027.16-86 GOST 15027.17-86 ГОСТ 27981.6-88 ГОСТ 27981.1-88 ГОСТ 15027.20-88 ГОСТ 17711-93 ГОСТ 1652.1-77 ГОСТ 15027.13-77 ГОСТ 1652.5-77 ГОСТ 15027.1-77 ГОСТ 1652.13-77 ГОСТ 1652.9-77 ГОСТ 15027.3-77 ГОСТ 13938.9-78 ГОСТ 23859.10-79 ГОСТ 193-79 ГОСТ 20068.2-79 ГОСТ 1953.13-79 ГОСТ 23859.7-79 ГОСТ 9716.1-79 ГОСТ 20068.3-79 ГОСТ 24048-80 ГОСТ 9717.2-82 ГОСТ 15027.15-83 ГОСТ 15027.19-86 ГОСТ 27981.3-88 ГОСТ 20068.4-88 ГОСТ 27981.0-88 ГОСТ 13938.15-88 ГОСТ 6674.0-96

ГОСТ 27981.3−88 고순도 구리. 광전식 스펙트럼 기록을 이용한 방출 분광 분석법


ГОСТ 27981.3−88

그룹 B59


소비에트 연방 국가표준


고순도 구리

광전식 스펙트럼 기록을 이용한 방출(발광) 분광 분석법

Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis
with photoelectric registration of spectrum


ОКСТУ 1709

유효기간: 01.01.1990부터
01.01.2000까지*
_______________________________
* 유효기간 제한은 1995년 제7차 국가간 표준화·계측·인증위원회 의사록에 따라 해제됨
(ИУС N 11, 1995년). — 데이터베이스 제작자 주.


정보

1. 제정·제출: 소비에트 연방 비철금속공업부

담당자:

Б.М.Рогов, Э. Н. Гадзалов, И. И. Лебедь, А. Б. Коротин, Г. В. Осипова, В. В. Подшивалов, В.И.Петровичева

2. 승인·공포: 소비에트 연방 국가표준위원회 결의 22.12.88 N 4443에 의거.

3. 최초 검토 예정 연도 — 1994년

검토 주기 — 5년

4. 최초 도입

5. 참조 규격·기술문서

   
참조된 규격(문서) 표기
해당 절·부록 번호
ГОСТ 123–78
부록 1
ГОСТ 334–73
제2절
ГОСТ 849–70
부록 1
ГОСТ 859–78
부록 1
ГОСТ 860–75
부록 1
ГОСТ 1277–75
부록 1
ГОСТ 1467–75
부록 1
ГОСТ 1770–74
부록 1
ГОСТ 3778–72
부록 1
ГОСТ 4236–77
부록 1
ГОСТ 3640–79
부록 1
ГОСТ 8655–75
부록 1
ГОСТ 4328–77
부록 1
ГОСТ 4461–77
제2절, 부록 1
ГОСТ 5072–79
제2절
ГОСТ 5556–81
제2절
ГОСТ 5817–77
부록 1
ГОСТ 5905–77
부록 1
ГОСТ 6008–82
부록 I
ГОСТ 6709–72
제2절
ГОСТ 6836–77
부록 1
ГОСТ 9147–80
제2절, 부록 1
ГОСТ 10928–75
부록 1
ГОСТ 11125–84
제2절, 부록 1
ГОСТ 18300–87
제2절, 부록 1
ГОСТ 19908–80
제2절, 부록 1
ГОСТ 20292–74
부록 1
ГОСТ 20298–74
제2절, 부록 1
ГОСТ 22180–76
부록 1
ГОСТ 24104–88
제2절, 부록 1
ГОСТ 25336–82
제2절, 부록 1
ГОСТ 27981.0−88
1.1



본 표준은 회절 분광계(MФС-6, MФС-8형)를 사용하여 광전식으로 스펙트럼을 기록하는 방출(발광) 분광법에 의해 고순도 구리 내 불순물을 다음의 질량 분율 범위에서 정량하는 방법을 규정한다: ГОСТ 27981.3-88 고순도 구리. 광전식 스펙트럼 기록을 이용한 방출 분광 분석법·10ГОСТ 27981.3-88 고순도 구리. 광전식 스펙트럼 기록을 이용한 방출 분광 분석법:

   
비스무트
0,10−5

2−25
카드뮴
0,30−5
코발트
0,10−10
규소(실리콘)
1−20
망간
0,10−10
비소
0,40−10
니켈
0,60−20
주석
0,20−10

0,10−20
셀레늄
0,80−20

0,30−25
안티모니
0,70−20
텔루륨
0,50−10

2−25
크롬
0,40−20
아연 0,60−20


이 방법은 MФС-6, MФС-8형 회절 분광계에서 측정한 각 원소의 스펙트럴 선의 세기에 기초한다. 방출 스펙트럼은 침상형 흑연 전극과, 시료를 질산으로 용해·염을 열분해하여 얻은 구리 산화물 정제물(정제된 정제 샘플)로 만든 태블릿 사이에 걸린 직류 아크로 발생시킨다.

1. 일반 요구사항

1.1. 분석 방법에 대한 일반 요구사항과 분석 수행 시 안전 요구사항은 ГОСТ 27981.0에 따른다.

1.2. 불순물의 질량 분율은 두 개의 시료(각각 병행)에서 병행으로 결정한다.

2. 장비, 재료 및 시약


회절 분광계 MФС-6, MФС-8형.

발전기 УГЭ-4 또는 아크의 고주파 점화를 위한 장치가 있는 다른 직류 전원, 가변저항 및 전류계를 갖춘 것으로서 200−400 V의 전압과 최대 12 A의 전류를 공급할 수 있는 것. 최대 900 °C까지 가열 온도를 조절할 수 있는 실험실용 저항식 가마(챔버형) 임의형.

실험실 건조용 전기 캐비닛.

흑연 및 금속 전극용 연마기(예: KP-35형 등).

펀치 직경 4−6 mm, 높이 50−80 mm의 합금강(예: ХВГ) 프레스 몰드.

정밀 전자 저울(4급 정확도) 유형 ВЛЭ-1 kg 또는 토션식 저울 ВТ-1000, 정확도 4급.

냉각수 공급을 갖춘 흑연 전극-받침대, 구리제 전극 홀더(수냉식)로서 전류 10 A에서 전극붕괴(완전 용융)를 방지하기 위한 열 방출을 보장하는 것(도.1).

도.1. 전극 홀더

전극 홀더

ГОСТ 27981.3-88 고순도 구리. 광전식 스펙트럼 기록을 이용한 방출 분광 분석법


1 — 냉각수 입구용 니플; 2 — 냉각수 출구용 니플.

도.1



스틱 형태의 흑연 전극(스펙트럼용 숯 마크 ОСЧ 또는 C-3)로, 핀형 연마 끝에 지름 3 mm의 평면을 가진 것(도.2).

도.2. 스펙트럼용 숯 마크 ОСЧ 또는 C-3의 스틱형 흑연 전극(핀형 연마 끝, 평면 지름 3 mm)

ГОСТ 27981.3-88 고순도 구리. 광전식 스펙트럼 기록을 이용한 방출 분광 분석법


1 — 흑연 전극-받침대; 2 — 시료 또는 표준 시료의 태블릿; 3 — 흑연 전극; 4 — 용융된 방울

a — 노출 전; b — 태블릿이 애노드(양극)일 때; c — 태블릿이 캐소드(음극)일 때.

도.2



분석용 정밀 저울(2급 정확도), 저울의 측정오차는 ГОСТ 24104에 따른다.*
_______________
* 러시아 연방 관할에서는 ГОСТ 24104–2001이 적용됨. — 데이터베이스 제작자 주.

기술용 저울(임의형), 측정오차는 첨부된 성능증명서에 따름.

토션 저울(임의형), 측정오차는 첨부 성능증명서에 따름.

아가트(마노) 절구 및 공이 또는 유약 처리된 자기 절구와 구리 공이.

의료용 핀셋.

자석.

스톱워치(ГОСТ 5072 준수) 또는 신호시계.

경도계 ТШ-2 또는 1−1.5 tf의 압력을 제공할 수 있는 프레스.

임의형 질산 증류 장치.

이중 증류수 장치(ВС형 또는 동등 장치).

저울용 비커(ГОСТ 25336 준수).

나사형 뚜껑이 있는 플라스틱 병.

석영 유리 컵(ГОСТ 19908 준수)* 또는 자기 컵(ГОСТ 9147 준수).
______________
* 러시아 연방 관할에서는 ГОСТ 19908–90이 적용됨. — 데이터베이스 제작자 주.

흡수성 의료솜(ГОСТ 5556 준수).

좌표 눈금지의(그래프지) (ГОСТ 334) марки ЛН.

증류수(ГОСТ 6709) 또는 이중증류수.

이온교환수(양이온교환수지 컬럼 통과시킨 물), 예: КУ-2−8 마크, 또는 이중증류수.

특급(초순수) 질산(ГОСТ 11125) 또는 증류(정제)한 질산(ГОСТ 4461) 및 1:1, 2:1로 희석한 것.

정제 에틸 알코올(ГОСТ 18300).

이온교환 수지 КУ-2−8(ГОСТ 20298 준수).

구리 조성의 표준시료들.

3. 분석 준비

3.1. 눈금(교정)용 표준시료의 제조는 부록 1에 제시되어 있다.

3.2. 분석 수행 전 절구, 프레스 몰드, 컵 및 핀셋을 알코올로 닦는다. 1회 분석당 알코올 사용량은 10 g이다. 각 시료 연소 후 절구와 전극 홀더를 알코올로 닦는다.

시료에서 각각 5−10 g의 시료를 두 개 취한다. 시료를 증발용 컵에 넣고 질산(1:1로 희석)을 1 g 시료당 8−10 смГОСТ 27981.3-88 고순도 구리. 광전식 스펙트럼 기록을 이용한 방출 분광 분석법 만큼 가한다(희석 비율에 관한 이미지 포함)하고 가열하면서 용해시킨다.

얻은 용액을 완전히 증발시켜 건조시키고, 건조된 염이 든 컵을 가마에 넣어 질소 산화물의 발생이 멈춘 시점부터 30분간 (600±50) °C에서 소성한다. 얻어진 구리 산화물을 절구에서 갈아준다. 산화물 분말로부터 각 원래 시료에서 각각 0.500 g씩 세 개의 소량을 취하여 태블릿으로 프레스한다.

정해진 원소의 검출 하한을 달성하기 위해 태블릿의 질량은 0.300 g에서 1.000 g까지 변경할 수 있다.

산화물 분말 상태의 시료도 태블릿으로 프레스할 수 있다. 눈금용 표준시료의 태블릿 질량과 분석 대상 시료의 태블릿 질량은 동일해야 한다.

분석 준비된 태블릿은 뷰크스(시료용 용기), 플라스틱 또는 폴리에틸렌 병에 나사식 뚜껑을 닫아 보관한다.

4. 분석의 수행

4.1. 시료 태블릿을 흑연 전극-받침대 위에 놓는다. 전극의 단면부 표면 오염 제거를 위해 전극 끝을 직류 아크에서 20초간 6−10 A의 전류로 소성한다(도.2 참조). 이때 전극-받침대를 아크의 양극으로 사용한다. 상부 전극에는 ОСЧ 마크의 흑연봉 또는 사전 소성된 C-3 마크의 봉을 사용한다.

4.2. 분석은 두 단계로 수행한다: 태블릿이 양극일 때(애노드)와 음극일 때(캐소드).

4.2.1. 첫 번째 단계에서는 휘발성 불순물의 질량분율을 결정한다: 카드뮴, 셀레늄, 비소, 텔루륨, 납, 비스무트, 인, 안티몬, 아연, 주석. 먼저 정제를 소성(가열)하고, 그때 흑연 받침대 위에 놓인 정제를 양극으로 사용한다. 이를 위해 먼저 상부 전극과 받침대 사이에 직류 아크를 점화한다. 정제의 일부가 용융된 이후에만 아크의 양극점은 형성된 용융 산화물 덩어리(королек)로 이동한다. 이 전이는 아크 점화 후 전류를 껐다 켜는 동작을 반복하여 아크가 용융물로 이동할 때까지 가속할 수 있다. 아크가 용융물로 이동한 시점부터의 소성 지속시간은 5초이다.

소성이 끝나면 절대 모드에서 지속시간 40초의 분석 노출을 시작한다.

초기에 설정한 전극 간격은 노출 전체 동안 단초점 투영 시스템의 화면에 표시되는 확대된 아크 영상을 보면서 전극홀더를 이동시켜 주기적으로 보정한다.

스펙트럼 기록은 입구 슬릿 폭 0.035 mm, 입구 슬릿 조명을 래스터 콘덴서로 조명, 방전 간극 30 mm, 아크 전류 10 A, 노출 시간 40초에서 수행한다.

4.2.2. 두 번째 단계에서는 저휘발성 불순물의 질량분율을 결정한다: 철, 망간, 니켈, 은, 코발트, 규소, 크롬.

첫 번째 단계에서 형성된 용융 산화물 덩어리(королек)를 새로 연마한 흑연 받침대로 옮겨 흑연 받침대를 음극으로 사용하여 5초 동안 소성한다.

스펙트럼 기록은 방전 간극 3 mm, 아크 전류 5 A, 노출 시간 20–30초에서 절대 또는 상대 모드로 수행하며, 비교 신호로는 스펙트럼 분해되지 않은 빛 채널에서 측정된 신호를 사용한다.

첫 번째 단계 종료 후 전극의 극성과 아크 전류 세기를 변경하여 용융물(королек)을 받침대에서 떼어내지 않고 두 번째 단계를 수행할 수 있다.

4.3. 각 정제에 대해 파장표 1에 기재된 파장에서 결정 원소의 스펙트럼 선 강도에 비례하는 출력 측정기(ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра)의 지시값을 기록한다.

표 1

   
분석 대상 원소
파장, nm
비스무트
306,772

302,107
카드뮴
214,441
코발트
345,351
규소
251,611
망간
279,480
비소
234,984
니켈
341,477
주석
286,332

283,307
셀레늄
203,980

338,289
안티몬
231,147
텔루륨
238,325

253,561
크롬
357,868
아연
334,502


주:

1. 본 표준의 요구사항에 따라 계량학적 특성을 확보할 수 있는 다른 분석 조건 및 다른 분석선을 사용할 수 있다.

2. 분석 시료에서 마그네슘을 결정하는 것이 허용된다.

4.4. 교정 그래프 작성

교정 그래프를 작성하고 교정 의존성을 확립하기 위해 부록 1에 따라 조제된 교정용 표준시료 또는 임의 등급의 구리 조성 표준시료를 사용한다. 시료 수는 4개 이상이어야 하며, 표준시료의 결정 원소 질량분율은 측정 범위를 포괄해야 한다.

항목 4.1 및 4.2에 따라 각 표준시료의 정제 3개와 배경 보정을 위한 구리 산화물(부록 1에 따라 준비)을 대상으로 스펙트럼을 얻고, 각 결정 원소의 스펙트럼선 평균 강도를 계산한다.

MФС-6 장비 사용 시 교정 그래프는 ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, 좌표계에서 작성한다,

여기서 ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 스펙트럼선 강도, 디지털 밀리볼트계의 지시값;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 표준시료상의 결정 원소 질량분율, %.

셀을 이용하여 MФС-6 장비는 취급 설명서에 따라 보정할 수 있으며, 디지털 밀리볼트계에서 측정 결과를 함량(%)으로 얻을 수 있다.

MФС-8 장비를 사용할 때는 표준시료의 원소 질량분율 값과 이에 대응하는 스펙트럼선 평균 강도를 컴퓨터에 입력한다.

컴퓨터는 교정 의존성의 방정식

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, (1)


를 형성한다, 여기서 ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 원소의 질량분율, %;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 각 원소에 대해 최소제곱법으로 결정되는 회귀계수;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 스펙트럼선 강도이다.

교정 의존성을 확립한 후 각 3개 정제의 원소 질량분율을 결정하고 항목 5.2에 따라 평균화 가능성을 평가한다. 항목 5.2의 조건이 만족되지 않으면 측정을 반복한다.

그래프 보정은 부록 2에 따라 매월 실시한다.

5. 결과 처리

5.1. 결정 원소의 질량분율(%) 계산은 수동 처리 시 교정 그래프를 이용하여, 또는 컴퓨터 처리 시 해당 그래프의 방정식으로 수행한다.

5.2. 동일한 구리 시료 분석에서 얻은 세 정제의 측정 결과는, 극단값들( ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра) 이 다음 식으로 정해지는 값보다 크지 않은 경우 평균화한다.

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, (2)


여기서 ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 측정 결과의 평균값, %;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 표 2에 따른 계수이다.

평균에서 가장 크게 벗어난 측정값을 제외하고 두 정제의 평균값을 사용하는 것이 허용되며, 단 다음 조건을 만족해야 한다.

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра. (3)


로그 스케일의 좌표 ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра 에 있는 그래프 세트를 사용하는 것이 허용된다.

세(또는 두) 회 측정값의 산술평균을 병행 결정의 결과로 한다.

5.3. 분석 결과는 두 병행 결정의 산술평균으로 하며, 그들 간의 차이가 ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра=0,95 일 때 절대 허용 편차 ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра를 초과하지 않아야 한다. 이 절대 허용 편차는 다음 공식으로 계산한다.

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, (4)


여기서 ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 두 병행 결정의 평균값, %;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — 표 2에 따른 계수이다.

차이가 (식) 을 초과하면 동일 시료의 새로운 시료채취분에서 분석을 반복한다. 반복된 병렬 분석 결과가 다시 일치하지 않으면 새로운 시료로 분석한다. 5.4. 1차 및 재분석 결과의 재현성은 두 번의 분석 결과의 차이가 (식) >= 0.95일 때, 절대 허용차 (식) 로 계산한 값을 초과하지 않으면 만족하는 것으로 본다. 여기서 X̄ — 두 번의 분석 결과의 산술평균, %; k1, k2 — 표 2에 따른 계수이다. 표 2 (측정 원소 — 계수들: a1, b1, a2, b2, a3, b3) - 비스무트 - a1 0.0019 b1 -0.31 a2 0.0021 b2 -0.39 a3 0.0015 b3 -0.46 - 철 - a1 0.0057 b1 -0.45 a2 0.0052 b2 -0.43 a3 0.0023 b3 -0.57 - 카드뮴 - a1 0.0010 b1 -0.50 a2 0.0027 b2 -0.39 a3 0.0013 b3 -0.52 - 코발트 - a1 0.0013 b1 -0.40 a2 0.0011 b2 -0.44 a3 0.0015 b3 -0.46 - 규소 - a1 0.00057 b1 -0.73 a2 0.00031 b2 -0.74 a3 0.00047 b3 -0.74 - 비소 - a1 0.00029 b1 -0.64 a2 0.0023 b2 -0.45 a3 0.0009 b3 -0.57 - 니켈 - a1 0.00084 b1 -0.60 a2 0.0018 b2 -0.44 a3 0.0004 b3 -0.68 - 주석 - a1 0.00022 b1 -0.62 a2 0.00035 b2 -0.65 a3 0.0023 b3 -0.45 - 납 - a1 0.0014 b1 -0.42 a2 0.0024 b2 -0.40 a3 0.0042 b3 -0.37 - 셀렌 - a1 0.0050 b1 -0.43 a2 0.0034 b2 -0.35 a3 0.0006 b3 -0.66 - 은 - a1 0.0054 b1 -0.33 a2 0.001 b2 -0.56 a3 0.0042 b3 -0.41 - 안티몬 - a1 0.00052 b1 -0.62 a2 0.0045 b2 -0.36 a3 0.00088 b3 -0.61 - 텔루륨 - a1 0.00052 b1 -0.62 a2 0.0013 b2 -0.53 a3 0.0006 b3 -0.63 - 인 - a1 0.00015 b1 -0.90 a2 0.0012 b2 -0.52 a3 0.00014 b3 -0.90 - 크롬 - a1 0.00067 b1 -0.57 a2 0.00013 b2 -0.86 a3 0.00093 b3 -0.57 - 아연 - a1 0.00052 b1 -0.62 a2 0.00091 b2 -0.53 a3 0.0011 b3 -0.58 - 망간 - a1 0.00036 b1 -0.58 a2 0.00029 b2 -0.58 a3 0.00045 b3 -0.58 5.5. 분석 결과의 정확성 관리는 어떠한 등급의 구리 표준시료(SО)를 사용하여 한 달에 한 번 이상, 표준시료에서 측정원소의 질량분율을 두 번의 병렬 측정으로 재현하여 수행한다. 표준시료에서 병렬 측정 결과의 산술평균값을 그 측정원소의 재현값으로 채택한다. 단, 병렬측정 결과의 차이가 (식) (식 (4)에 따라 계산) 을 초과하지 않을 경우에 한한다. 구리 분석 결과가 요구 정밀도를 만족한다고 판단하기 위해서는 재현값이 공인값에서 (식)×0.71 이내(식 (5)에 따라 계산) 이어야 한다. 이 조건을 만족하지 못하면 관찰된 편차의 원인을 규명하고 제거할 때까지 분석을 중단한다. 정확성 확인은 제어되는 방법과 동일하거나 그보다 작은 오차를 가진 다른 방법으로 수행할 수 있다. 구리 분석 결과는 다음 조건을 만족할 때 요구되는 정확성을 만족한다고 본다: (식) 여기서 Xc, Xt — 제어 방법 및 대조 방법의 분석 결과; Δc 및 Δt — 제어 방법과 대조 방법에서 규정된 두 번의 분석 사이의 허용차이다. 부록 1 (권장). 교정용 표준시료 준비 부록 1 권장 표준시료는 질산에 순수 구리 모체를 용해시키고, 불순물 용액을 정량적으로 첨가한 다음 증발 및 질산염 혼합물의 열분해를 통해 얻은 구리 산화물 분말로 구성된다. 1. 기기, 시약, 용액 - 분석용 저울: 어떠한 유형이든지 2급 정밀도(오차는 ГОСТ 24104에 따름). - 전기로(실험로): 최고 가열온도 800 °C까지. - 비커, 콘 플라스크: ГОСТ 25336 준수. - 정량 플라스크 2–250–2, 2–100–2: ГОСТ 1770 준수. - 도자기 접시·절구: ГОСТ 9147 또는 아갯(아게이트) 절구, 옥석 절구. - 폴리에틸렌·플루오로플라스틱 용기(나사마개) 또는 비커스: ГОСТ 25336. - 석영(쿼츠) 접시: ГОСТ 19908. - 뷰렛: ГОСТ 20292*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 29169–91, ГОСТ 29227–91–ГОСТ 29229–91, ГОСТ 29251–91–ГОСТ 29253–91 등이 적용됨. — 데이터베이스 제작자 주. - 피펫: 1–2–1.2, 6(7)–2–5, 10, 25 등 (ГОСТ 20292). - 탄소일(카보닐) 철 고순도. - 비스무트: ГОСТ 10928*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 10928–90 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 구리: 등급 M00k, ГОСТ 859*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 859–2001 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 주석: ГОСТ 860. - 카드뮴 등급 Kd0: ГОСТ 1467*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 1467–93 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 니켈 등급 Н1у: ГОСТ 849*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 849–97(2009.07.01 이후 ГОСТ 849–2008) 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 은: ГОСТ 6836*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 6836–2002 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 코발트 등급 K0: ГОСТ 123*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 123–98(2009.07.01 이후 ГОСТ 123–2008) 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 메타-나트륨 규산염 9수화물 또는 테트라에톡시실란. - 크롬 등급 Х99Б: ГОСТ 5905*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 5905–2004 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 망간 금속: ГОСТ 6008*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 6008–90 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 질산납(П): ГОСТ 4236, 재결정한 것, 또는 납: ГОСТ 3778*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 3778–98 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 인: ГОСТ 8655. - 텔루륨: 규격 문서에 따름. - 셀렌: 규격 문서에 따름. - 아연: ГОСТ 3640*. * 러시아 연방에서는 ГОСТ 3640–94 적용. — 데이터베이스 제작자 주. - 질산(정제): ГОСТ 4461(석영 장치에서 증류) 또는 고순도 질산: ГОСТ 11125; 희석비 1:1, 2:1. - 정제 에틸 알코올: ГОСТ 18300. - 질산은: ГОСТ 1277, 20 g/dm³ 용액. - 타르타르산(와인산): ГОСТ 5817. - 옥살산: ГОСТ 22180. - 수산화나트륨: ГОСТ 4328, 100 g/dm³ 용액. - 비소 금속. - 이온교환 컬럼을 통한 탈이온수 또는 석영 장치로 재증류한 bidistilled water. - 안티몬 등급 Су00: ГОСТ 1089. 2. 불순물 용액의 준비 2.1. 니켈, 코발트, 철, 아연, 납, 비스무트, 카드뮴, 비소, 인, 은, 셀렌, 텔루르의 각 시료 0.6250 g을 각각 별도의 250 cm³ 비커에 넣고 25 cm³ 질산으로 용해시킨다. 용액을 250 cm³ 정량플라스크로 옮기고 질산(1:1로 희석)으로 눈금까지 채운다. 각 용액의 1 cm³에는 위의 각 불순물이 2.5 mg 포함된다. 2.2. 크롬 시료 0.6250 g을 20–30 cm³ 염산에 끓이는 수욕에서 용해시킨다. 용액을 건조염으로 증발시킨다. 건조염에 5–10 cm³ 질산을 가하고 용액을 습염까지 증발시킨다. 이 질산 처리를 총 3회 반복하고 매번 습염까지 증발시킨다. 그 다음 질산(1:1로 희석) 100 cm³를 가하고 250 cm³ 정량플라스크로 옮겨 질산(1:1)로 눈금까지 채운다. 얻은 용액에서 10–20 cm³를 채취하여 50 cm³ 비커에 넣고 질산은 용액으로 염화이온 존재를 검사한다. 염화이온이 검출되면 위 과정을 반복한다. 해당 용액의 1 cm³는 크롬 2.5 mg을 포함한다. 2.3. 주석 시료 0.6250 g을 250 cm³ 비커에 넣고 옥살산 5 g과 질산(2:1로 희석) 20 cm³를 가하고 가열하지 않고 용해시킨다. 용액을 250 cm³ 정량플라스크로 옮기고 질산(2:1)로 눈금까지 채운다. 1 cm³ 용액에는 주석 2.5 mg이 포함된다. 2.4. 안티몬 시료 0.6250 g을 250 cm³ 비커에 넣고 타르타르산 4 g을 가한 다음 과잉의 뜨거운 질산으로 용해시키며 끓인다. 용액을 250 cm³ 정량플라스크로 옮기고 질산(1:1)로 눈금까지 채운다. 1 cm³에는 안티몬 2.5 mg 포함. 2.5. 규산나트륨 시료 1.0117 g을 100 cm³ 정량플라스크에 넣고 5–7 cm³ 물에 용해시킨 다음 질산(1:2로 희석)으로 눈금까지 채우거나, 테트라에톡시실란 시료 0.7418 g을 100 cm³ 정량플라스크에 넣고 에탄올에 용해한 후 에탄올로 눈금까지 채운다. 1 cm³ 용액에는 규소 1 mg 포함. 2.6. 산화막을 제거한 비소 시료 0.6250 g을 250 cm³ 비커에 넣고 125–150 cm³ 끓는 질산을 가하여 가열하여 용해한다. 용액을 냉각한 다음 250 cm³ 정량플라스크로 옮기고 질산(1:1)로 눈금까지 채운 후 혼합한다. 1 cm³ 용액에는 비소 2.5 mg 포함. 2.7. 질산납 0.9988 g을 250 cm³ 정량플라스크에 넣고 10–15 cm³ 물에 용해한 후 질산(1:1)로 눈금까지 채운다. 1 cm³ 용액에는 납 2.5 mg 포함. 3. 표준시료의 제조 3.1. 용액 1–4의 준비 용액 1: 250 cm³ 정량플라스크에 피펫으로 주석, 코발트, 망간, 비스무트, 카드뮴, 비소, 텔루르, 크롬의 질산 용액을 각각 10 cm³씩 넣고 질산(1:1)으로 눈금까지 채운 후 혼합한다. - 용액 1의 1 cm³에는 주석, 코발트, 망간, 비스무트, 카드뮴, 비소, 텔루르, 크롬이 각각 0.1 mg 포함된다. 용액 2: 250 cm³ 정량플라스크에 피펫으로 납, 니켈, 안티몬, 아연, 셀렌의 질산 용액을 각각 10 cm³씩 넣고 질산(1:1)으로 눈금까지 채운 후 혼합한다. - 용액 2의 1 cm³에는 납, 니켈, 안티몬, 아연, 셀렌이 각각 0.1 mg 포함된다. 용액 3: 100 cm³ 정량플라스크에 피펫으로 인, 철, 은의 질산 용액을 각각 20 cm³씩 넣고 질산(1:1)으로 눈금까지 채운다. - 용액 3의 1 cm³에는 인, 철, 은이 각각 0.5 mg 포함된다. 용액 4: 규산나트륨 용액 10 cm³를 100 cm³ 정량플라스크로 옮기고 질산(1:2)으로 눈금까지 채우거나, 테트라에톡시실란의 알코올 용액 10 cm³를 100 cm³ 정량플라스크로 옮기고 알코올로 눈금까지 채운다. - 용액 4의 1 cm³에는 규소 0.1 mg 포함된다. 3.2. 구리 용액의 준비 5개의 2000 cm³ 비커에 각각 200 g의 구리를 넣고 질산(1:1) 을 구리 1 g당 7–8 cm³의 비율로 가하여 가열해 용해시킨다. 3.3. 표 3에 따라 계산된 용액 1–4의 부피를 4개의 비커에 나누어 넣는다. 표 3 (비커 번호 / 용액 / 용액 부피, cm³) - 비커 1: 용액 1 — 1 - 비커 2: 용액 1 — 2 - 비커 3: 용액 1 — 4 - 비커 4: 용액 1 — 10 - 비커 1: 용액 2 — 2 - 비커 2: 용액 2 — 10 - 비커 3: 용액 2 — 20 - 비커 4: 용액 2 — 40 - 비커 1: 용액 3 — 2 - 비커 2: 용액 3 — 4 - 비커 3: 용액 3 — 8 - 비커 4: 용액 3 — 10 - 비커 1: 용액 4 — 2 - 비커 2: 용액 4 — 10 - 비커 3: 용액 4 — 20 - 비커 4: 용액 4 — 40 얻은 용액들을 석영 접시에 증발시켜 건조염으로 만들고, 염을 600–650 °C의 가열로에서 질산염이 완전히 분해되고 질소산화물이 제거될 때까지 소성한다. 산화물 혼합물을 절구에서 갈거나 측정 대상 원소로 오염되지 않도록 다른 방법으로 분쇄한다. 표준시료(SО) 내 원소들의 질량분율은 표 4에 따른다. 표 4 (표준시료 명칭 / 질량분율, % (구리 기준)) - 항목들: 코발트·망간·주석·비스무트·비소·크롬·텔루르·카드뮴 | 셀렌·니켈·납·안티몬·아연 | 인·철·은 | 규소 - СО-1: 0.00005 | 0.0001 | 0.0005 | 0.0001 - СО-2: 0.0001 | 0.0005 | 0.0010 | 0.0005 - СО-3: 0.0002 | 0.0010 | 0.0020 | 0.0010 - СО-4: 0.0005 | 0.0020 | 0.0025 | 0.0020 표준시료와 불순물이 없는 구리 산화물은 유리 또는 폴리에틸렌 용기에 나사마개로 밀봉하여 보관한다. 보관 방법은 표준시료의 오염과 습기를 막아야 한다. 규정된 보관 조건을 지키면 표준시료의 유효기간은 5년이다. 필요에 따라 표준시료와 불순물의 장입량은 표준시료 수요 및 분석 시료의 조성에 따라 변경할 수 있으며, 이에 따라 질량분율을 재계산한다. 3.4. 구리 표준시료의 공인값은 제조 절차에 따라 결정한다. 공인 특성 설정에 따른 오차는 신뢰수준 0.95에서 5%를 초과하지 않는다. 부록 2 (권장). 교정곡선의 보정 부록 2 권장 1. MFS-8 장비에서의 그래프 보정 그래프 보정을 위해 교정용 표준시료(SО) 또는 해당 원소의 최대 및 최소 질량분율을 가진 두 개의 대조시료에서 측정원소의 스펙트럼선 강도를 측정한다. 측정한 강도를 컴퓨터에 입력한다. 컴퓨터는 다음 식들로 보정계수를 계산한다: (식) ; (식) 여기서 I1, I2 — 교정 시에 측정한 두 표준시료에서의 원소 스펙트럼선 강도; I1', I2' — 보정 시에 측정한 원소 스펙트럼선 강도; k1, k2 — 식 (1)에 따른 계수들이다. 만약 계수 k1 및 k2에 대한 부등식이 성립하지 않으면 장비 조정을 수행한다. 보정계수를 적용한 교정식은 다음과 같다: (식). (9) 2. MFS-6 장비에서의 그래프 보정 MFS-6 장비의 그래프 보정은 사용 설명서에 따른다.