ГОСТ 16273.1-85

ГОСТ 16273.1−85 기술용 셀레늄. 분광분석 방법

ГОСТ 16273.1−85

그룹 B59

소련 국가 표준

공업용 셀레늄

분광분석 방법

Technical selenium. Method of spectral analysis

ОКСТУ 1709

유효기간 01.07.86
~ 01.07.91*
_______________________________
* 유효기간 제한은 러시아 국립표준위원회 결정 1991.06.04 N 782로 해제됨
(ИУС N 9, 1991년). — 주석 «КОДЕКС».

제정: 소련 비철금속공업부

집필자

Б.М.Рогов, Э. Н. Гадзалов, Ю. Н. Семавин, О. Д. Рябкова, Э.Б.Маковская

제출: 소련 비철금속공업부

위원회 위원 А. П..Снурников

승인 및 시행: 소련 국가표준위원회의 1985년 1월 30일 결정 N 208에 따라 승인·시행됨

대체: ГОСТ 16273.1−71


본 표준은 질량분율 셀레늄이 97.5% 이상인 공업용 셀레늄에서 구리, 철, 납, 수은, 마그네슘, 텔루륨, 비소, 안티모니, 알루미늄을 방출(발광) 분광법으로 정량하는 방법을 규정하며, 질량분율 범위(%)는 다음과 같다:

	구리	2·10 — 6·10
	철	1·10 — 6·10
	납	1·10 — 6·10
	텔루륨	1·10 — 1,0
	비소	1·10 — 2·10
	수은	5·10 — 6·10
	알루미늄	2·10 — 2·10
	안티모니	2·10 — 1·10
	마그네슘	5·10 — 6·10

셀레늄 내 불순물의 질량분율 측정은 시료의 증발과 교류 아크를 이용한 스펙트럼의 여기(발광)에 기초한다.

1. 일반 요구사항

분석 방법에 대한 일반 요구사항 — ГОСТ 16273.0−85에 따름.

2. 장비, 재료, 시약, 용액

슬릿 조명을 위한 삼중 렌즈(또는 단렌즈) 시스템을 갖춘 임의 형식의 분광기.

(광전식 스펙트럼 기록 장비 사용 허용).

임의 형식의 마이크로포토미터.

임의 형식의 교류 아크 발생기.

최대 적재량 200 g의 실험실 저울.

도자기 절구(몰타) — ГОСТ 9147–80에 따르거나 마노(아가트) 절구 및 공이.

도자기 컵 — ГОСТ 9147–80에 따름.

유리 용기(бюксы) — ГОСТ 25336–82에 따름.

실험실용 건조 오븐.

적외선 램프 — ГОСТ 13874–76에 따름.

흑연 전극 연마기(연삭기), 임의 형식.

망 0071의 체 — ГОСТ 6613–73*.
________________
* 현재는 ГОСТ 6613–86 적용. — 주석 «КОДЕКС».

분광용 감광판: 감도 3−5 단위의 I형, 감도 10−20 단위의 II형·ЭС 또는 УФШ형 또는 기타 대비가 큰 사진 재료.

스펙트럼용 고순도 흑연 전극(마크 S-3, ОС4−7−4, ГОСТ 4425−72), 지름 6 mm, 길이 30−50 mm, 분화구(크레이터) 지름 3.8−4 mm, 깊이 4−5 mm, 및 지름 6 mm 길이 30−50 mm로 반구 또는 원뿔형으로 연마된 것. ГОСТ 23463−79에 따른 특수 순도의 흑연 분말 또는 스펙트럼용 고순도 흑연 전극을 분쇄하여 얻은 흑연 분말. 현상액: - 메톨(ГОСТ 25664−83) — (1±0.1) g - 하이드로퀴논(ГОСТ 19627−74) — (5±0.2) g - 황산나트륨(무수, ГОСТ 195−77) — (25±1) g - 브롬화칼륨(ГОСТ 4160−74) — (1±0.1) g - 탄산나트륨(무수, ГОСТ 83−79) — (20±1) g - 증류수 — 총량 1 dm3까지 정착액(픽서): - 결정성 티오황산나트륨(СТ СЭВ 223−75) — (250±5) g - 칼륨 황산염(피로)(ГОСТ 5713−75) — (25±1) g - 증류수 — 총량 1 dm3까지 (참고: 표 내 이미지 및 아이콘은 원문에 포함된 표시입니다.) 다른 대비 효과가 있는 현상액 및 정착액의 사용을 허용한다. 교정(그라두이로브카)용 표준시료는 어느 등급이라도 허용된다. 산화 비스무트(ГОСТ 10216−75). 산화 코발트(ГОСТ 4467−79). 정제 에틸 알코올(공업용, 재증류)(ГОСТ 18300−72)*. ________________ * 현재는 ГОСТ 18300−87가 유효하다. 이하 본문에서도 동일. — 주석 "КОДЕКС". 살리실산나트륨(ГОСТ 17628−72), 에탄올 중 5% 용액. 염화나트륨(ГОСТ 4233−77). 3. 분석 준비 3.1. 교정용 표준시료의 제조는 필수 부록 1에 제시되어 있다. 교정 목적에는 적법한 절차로 인증된 어떤 등급의 표준시료도 사용할 수 있다. 3.2. 완충(버퍼) 혼합물의 제조 혼합물 1: 도자기(또는 아갯) 막자사발에 흑연 분말 0.87 g과 코발트 산화물 0.13 g을 넣고 균일한 질감이 될 때까지 빻는다. 혼합물 2: 혼합물 1에서 0.10 g을 취하여 도자기 막자사발에 옮기고, 여기에 비스무트 산화물 0.28 g과 흑연 분말 0.62 g을 넣어 혼합한다. 완충 혼합물을 제조하기 위해 도자기 컵에 염화나트륨 1 g을 넣고 용해될 때까지 물을 가한다. 얻어진 용액에 흑연 분말 8.90 g과 혼합물 2 0.10 g을 넣어 혼합한 뒤 건조판에서 건조시킨다. 건조된 혼합물을 빻고 체망(망목 0071)을 통해 체로 친다. 체망에 남은 잔류물을 빻아 다시 체로 친다. 얻어진 혼합물은 염화나트륨 10.0%, 비스무트 0.25%, 코발트 0.01%를 포함한다. 제조량은 늘릴 수 있다. 완충 혼합물은 흑연 분말과 염화나트륨 혼합물에 적절한 양의 질산 비스무트 및 질산 코발트 용액을 첨가하여 준비하는 것도 허용된다. 4. 분석 수행 4.1. 셀레늄 분석(주성분 질량분율 97.5%에서 99.0%) 4.1.1. 시료 및 교정용 표준시료는 완충 혼합물과 1:2 비율(시료 200 mg, 완충 혼합물 400 mg)로 도자기(또는 아갯) 막자사발에서 30–35분간 혼합한 뒤, 미리 교류 아크에서 전류 10–12 A로 10–15 s 동안 가열 소성한 그래파이트 전극의 분화구에 충전한다. 전극 марка ОСЧ-7−4는 사전 소성하지 않는다. 각 시료 및 교정용 표준시료에서 두 개의 분량을 취하고 전극을 각 분량당 3개씩 준비한다. 4.1.2. 스펙트럼은 3단계 감쇠기를 통해 스펙트로그라프 슬릿 폭 0.012 mm에서 촬영한다. 슬릿 조명은 3렌즈 또는 단렌즈 콘덴서를 사용한다. 중간 조리개는 감광판의 감도에 따라 설정한다. 시료의 증발 및 스펙트럼의 여기(발광)는 교류 아크에서 전류 7–8 A, 아크 간격 2.5 mm로 수행하며, 노광 시간은 75 s이다. 카세트의 오른쪽에는 유형 I 판(9×6 cm)을, 그 왼쪽 바로 옆에는 유형 II, ЭС 또는 УФШ 판(9×12 cm)을 넣는다. 교정용 제1 표준시료의 스펙트로그램에서 셀레늄선 241.35 nm는 철선 241.33 nm와(가장 약화된 단계에서) 분해되어야 한다. 한 쌍의 판으로 각 분석 대상 시료 및 표준시료마다 각각 3개의 스펙트럼을 촬영한다. 동일한 촬영을 두 번째 판 쌍에서도 반복한다. 판은 (20±1)°C에서 현상(현상 시간은 판 포장에 기재됨)하고 정착한 다음, 흐르는 물에서 18–20분 동안 세척하고 증류수로 헹군 뒤 건조시킨다. Если из-за плохого пропускания оптикой спектрографа коротковолновой части ультрафиолетовой области спектра или недостаточной чувствительности фотоматериала линии мышьяка и теллура в спектрах стандартных образцов с наименьшим содержанием примесей имеют малую плотность почернения (менее 0,10), то определение этих элементов следует провести на отдельной фотопластинке. Для этого фотографируют спектры проб и стандартных образцов в условиях, указанных выше, но на одно и то же место фотопластинки снимают спектры трех-пяти электродов. При этом следует учитывать фон, если его почернение в спектре сравнимо с почернением аналитической линии.

4.1.3. Фотометрирование спектрограмм

Фотометрирование спектрограмм проводят на микрофотометре при ширине щели не более 0,2 мм.

На полученных спектрограммах измеряют плотности почернения аналитических линий определяемых элементов и линии элементов, служащих внутренним стандартом , длины волн которых приведены ниже.

Для фотометрирования следует выбрать те ступеньки ослабления, в которых плотности почернения измеряемых линий лежат в области нормальных.

	Линия примеси, нм			Линия сравнения, нм
	Медь	327,40		Кобальт	304,40
	Медь	282,40		Кобальт	304,40
	Железо	304,76		Кобальт	304,40
	Железо	259,96		Кобальт	242,49
	Свинец	283,31		Висмут	289,80
	Свинец	266,32		Висмут	269,66
	Ртуть	253,65		Селен	241,35
	Теллур	238,58		Селен	241,35
	Мышьяк	234,98		Селен	241,35
	Магний	280,27		Висмут	289,80
	Алюминий	308,21		Селен	241,35

Допускается использование в качестве линии сравнения фона около линии определяемого элемента, если плотность его не менее 0,20.

4.1.4. Обработка результатов

Вычисляют разность почернений , находят среднее арифметическое для трех спектров каждого стандартного образца и пробы. По найденным значениям для стандартных образцов строят градуировочный график в координатах , где  — массовая доля примесей в стандартных образцах в процентах. По графику находят массовую долю примесей, соответствующую вычисленным для проб величинам .

За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое результатов параллельных определений, полученных из двух навесок по трем спектрограммам, снятых на двух парах пластинок.

4.2. Анализ селена (с массовой долей основного компонента свыше 99,0%)

4.2.1. Приготовление стандартных образцов для градуировки приведено в обязательном приложении 1.

Для разбавления проб и стандартных образцов для градуировки используют буферную смесь, приготовленную по п. 3.2.

4.2.2. Пробы и стандартные образцы смешивают с буферной смесью в фарфоровой (или агатовой) ступке в соотношении 2:1 (600 мг пробы и 300 мг буферной смеси) в течение 30−35 мин. Подготовленными пробами и стандартными образцами набивают кратеры графитовых электродов. От каждой пробы и стандартного образца берут две навески и готовят по три электрода.

4.2.3. Фотографирование спектров, фотометрирование спектрограмм и обработка результатов — по пп.4.1.2−4.1.4.

5. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СУРЬМЫ

5.1. Анализ селена (с массовой долей железа не более 0,02%)

5.1.1. Приготовление образцов приведено в обязательном приложении 1.

5.1.2. 완충 혼합물의 조제 도자기 그릇에 비스무트 산화물 0.28 g과 흑연 분말 0.72 g을 절구 등으로 잘 갈아 혼합한다(첫 번째 혼합물). 다른 도자기 그릇에 염화나트륨 1 g을 넣고 소금이 모두 녹을 때까지 물을 첨가한다. 얻어진 용액에 흑연 분말 8.90 g과 첫 번째 혼합물 0.10 g을 넣어 모두 섞은 후 가열판에서 건조시킨다. 얻어진 혼합물을 30–40분 동안 균일한 상태가 될 때까지 갈아준다. 조제된 완충 혼합물은 염화나트륨 10% 및 비스무트 0.25%를 포함한다. 완충 혼합물은 적당량의 비스무트 질산염 용액을 흑연 분말과 염화나트륨의 혼합물에 첨가하여 제조할 수도 있다. 필요에 따라 동시에 조제하는 완충 혼합물의 양을 늘릴 수 있다. 5.1.3. 분석 준비 분석할 시료와 교정용 표준시는 완충 혼합물과 질량비 2:1(시료 600 mg 및 완충 혼합물 300 mg)로 혼합한다. 혼합은 절구에서 30–40분간 수행한 후, 얻어진 혼합물로 예비로 교류(AC) 아크 10–12 A에서 10–15초간 소성한 흑연 전극의 홈(크레이터)을 채운다. 각 시료와 표준시료에서 두 개의 분취를 취해 각각 3개의 전극을 준비한다. 5.1.4. 스펙트럼 촬영 스펙트럼 촬영은 3렌즈 또는 단렌즈 콘덴서를 갖춘 스펙트로그래프에서 삼단계 감쇠기를 통해 수행한다. 스펙트로그래프의 슬릿 폭은 0.012 mm, 중간 조리개는 원형이다. 아크 간격은 2.5 mm이다. 카세트에 II형 또는 ЭС형 감광판을 넣는다. 감광판은 감광도가 촬영 조건(본 규격에서 정한 조건)에서 안티몬선 259.81 nm 부근의 배경 암도가 0.10 이상이 되도록 적합한 것을 선택한다. 시료의 증발 및 스펙트럼의 여기(발광)는 교류 아크에서 7–8 A로 수행하며 노출 시간은 75초이다. 각 시료 및 표준시료마다 한 장의 감광판에 각기 3개의 스펙트럼을 촬영하고, 같은 촬영을 두 번째 감광판에서도 반복한다. 감광판은 (포장에 기재된 현상 시간에 따라) 섭씨 (20±1) °C에서 현상하고 정착한 다음 흐르는 물에서 18–20분 세척하고 증류수로 헹군 후 건조시킨다. 5.1.5. 스펙트로그램의 측광 및 분석 결과 처리 마이크로포토미터의 슬릿 폭은 0.2 mm 이하로 하여 측광을 수행한다. 안티몬선(259.81 nm) 및 비스무트선(269.66 nm)의 암도(광밀도)를 측정하되, 측광에는 측정되는 선들의 암도가 정상 범위에 들어오도록 감쇠기의 적절한 단계를 선택한다. 안티몬선과 비스무트선의 암도 차를 계산하고, 각 표준시료 및 시료에 대해 3개의 스펙트럼에 대한 산술평균값을 구한다. 교정곡선 작성, 안티몬의 질량분율 산정 및 결과 처리는 4.1.4항에 따른다. 5.1.6. 철 함량이 0.02% 이하인 시료에서 안티몬의 질량분율이 0.002–0.05% 범위인 경우에는 3절에 제시된 바와 같이 셀레늄 중 불순물의 질량분율을 결정할 때 얻어진 스펙트럼으로도 안티몬을 결정할 수 있으며, 이 경우 표준시료에 안티몬을 도입해야 한다. 5.2. 철 함량이 0.02%를 초과하는 셀레늄의 분석 5.2.1. 교정용 표준시료의 조제는 필수 부록 1에 제시되어 있다. 5.2.2. 완충 혼합물의 조제 도자기 그릇에 염화나트륨 1 g을 넣고 소금이 모두 녹을 때까지 물을 첨가한다. 얻어진 용액에 비스무트 산화물 0.20 g과 흑연 분말 8.80 g을 넣어 모두 섞은 다음 가열판에서 건조시킨다. 건조된 분말을 잘 혼합하고 갈아준다. 조제된 완충 혼합물에는 비스무트 산화물 2% 및 염화나트륨 10%가 포함되어 있다. 5.2.3. 시료 및 표준시료의 준비 — 5.1.3항에 따름. 5.2.4. 스펙트럼 촬영 스펙트럼은 슬릿 폭 0.012 mm에서 삼단계 감쇠기를 통해 촬영한다. 슬릿 조명은 3렌즈 콘덴서로 한다. 3렌즈 콘덴서는 단렌즈 콘덴서로 대체할 수 있으며, 또한 첫 번째 콘덴서인 무색수차 아크로마트(75 mm)는 동일 초점거리의 비아크로마트 콘덴서로 대체할 수 있다. 중간 조리개는 원형이다. 아크 간격은 2.5 mm이다. 카세트의 왼쪽 부분(스펙트럼의 단파장 쪽)에는 II형 또는 ЭС형 감광판을 넣는데, 이 감광판은 에틸 알코올 속의 살리실산나트륨 용액으로 감광 처리한 것이다(참고 부록 2). 감광판은 안티몬선 231.15 nm 부근의 배경 암도가 0.20 이상이 되도록 선택한다. 시료의 증발 및 스펙트럼의 여기는 교류 아크에서 7–8 A로 수행하며 노출 시간은 75초이다.

촬영을 두 번째 플레이트에서 반복한다.

5.2.5. 스펙트로그램의 광도측정 및 결과 처리

안티모니(231.15 nm) 선과 비스무트(240.09 nm) 선의 암화도(density)를 측정하되, 측정하려는 선의 암화도가 정상 영역에 있는 계단(step)을 선택하여 광도측정한다.

안티모니 선과 비스무트 선의 암화도 차이를 계산한 다음 . 각 시료 및 표준시료에 대해 3개의 스펙트럼에 대한 산술평균 를 구한다.

교정곡선 작성, 안티모니의 질량분율 결정 및 결과 처리는 항 4.1.4에 따른다.

부록 1 (필수). 교정용 표준시료의 제조

부록 1
필수

1. 각 제조소에서 본 방법에 따라 제조한 교정용 표준시료는 규정된 절차에 따라 인증되어야 한다.

2. 금속 산화물 및 염 용액으로부터 교정용 표준시료를 제조하는 것을 허용한다.

3. 셀레늄 분석 시 기본 성분의 질량분율이 97.5%에서 99% 범위인 경우 금속 산화물로부터 교정용 표준시료를 제조한다.

3.1. 시약

고순도 셀레늄 — ГОСТ 6738–71.

고순도 텔루륨 — ГОСТ 18428–81.

산화구리(I) — ГОСТ 16539–79.

산화납(II) — ГОСТ 9199–77.

산화철 — ГОСТ 4173–77.

황색 산화수은 — ГОСТ 5230–74.

비소 삼산화물(비소(III) 산화물).

활성 산화알루미늄(활성 알루미나) — ГОСТ 8136–76*.
________________
* 유효 기준은 ГОСТ 8136–85이다. 이하 본문에도 적용됨. — 주석 «КОДЕКС».

산화마그네슘 — ГОСТ 4526–75.

공업용 정제 에틸 알코올 — ГОСТ 18300–72.

3.2. 시료 제조

사전 분쇄하여 체 0071K로 체질한 분말의 취부량(각): 산화구리 0.138 g, 산화납 0.118 g, 산화철 1.587 g, 산화수은 0.398 g, 비소 삼산화물 0.488 g, 산화알루미늄 0.703 g, 산화마그네슘 0.182 g, 텔루륨 1.850 g을 절구에 넣고 혼합한다. 보다 균일한 혼합물을 얻기 위하여 에틸 알코올을 혼합물 1 g당 1−1.5 척도로 사용한다. 혼합물이 건조될 때까지 절구에서 절구한다.

SMB형 기계식 혼합기 사용을 허용한다.

얻어진 혼합물에서 1.0 g을 취하고 2.35 g의 셀레늄-기본물질과 함께 절구에서 갈아 넣는다.

이로써 얻은 원 표준시료(골드 표준샘플)의 조성은 철 6%, 납·구리·마그네슘 각 0.6%, 텔루륨 10%, 알루미늄·비소·수은 각 2%이다.

교정용 작업 표준시료는 원 표준시료를 먼저 10배 희석한 다음, 이어서 각 단계에서 2−2.5배로 셀레늄-기본물질로 차례로 희석하여 제조한다.

교정용 표준시료의 조성은 표 1에 제시되어 있다.

표 1

표준시료 번호	불순물의 질량분율, %
	마그네슘, 구리, 납	철	수은, 비소, 알루미늄	텔루륨
1−1	0.06	0.6	0.2	1.0
2−1	0.03	0.3	0.1	0.5
3−1	0.012	0.12	0.04	0.2
4−1	0.0048	0.048	0.016	0.08
5−1	0.0024	0.024	0.008	0.04
6−1	0.0012	0.012	0.004	0.02

분석 대상 시료의 조성에 따라 불순물의 질량분율을 변경하거나 특정 불순물을 제외하는 것이 허용되며, 이에 따라 조성을 재계산한다.

4. 금속 용액으로부터 표준시료 제조

4.1. 시약 및 용액

염산 — ГОСТ 3118–77 및 1:1 희석액.

질산 — ГОСТ 4461–77 및 1:1 희석액.

타르타르산(Кислота винная) — ГОСТ 5817–77.

구리 — ГОСТ 859–78*.
______________
* 러시아 연방에서는 ГОСТ 859–2001이 적용됨. — 주석 «КОДЕКС».

납 — ГОСТ 3778–77*.
______________
* 러시아 연방에서는 ГОСТ 3778–98이 적용됨. — 주석 «КОДЕКС».

환원 철.

수은 — ГОСТ 4658–73.

텔루륨 — ГОСТ 18428–81.

알루미늄 — ГОСТ 11068–74.

마그네슘 — ГОСТ 804–72*.
________________
* 러시아 연방에서는 ГОСТ 804–93이 적용됨. — 주석 «КОДЕКС».

셀레늄 — ГОСТ 6738–71.

산화구리 — ГОСТ 16539–79.

산화납 — ГОСТ 9199–77.

산화철 — ГОСТ 4173–77.

황색 산화수은 — ГОСТ 5230–74.

활성 산화알루미늄 — ГОСТ 8136–76.

산화마그네슘 — ГОСТ 4526–75.

안티몬 삼산화물.

비소(III) 산화물(мышьяковистый ангидрид).

질산구리.

질산납(II) — ГОСТ 4236–77.

질산철(III) 9수화물 — ГОСТ 4111–74.

질산수은 1수화물 — ГОСТ 4520–78.

질산알루미늄 9수화물 — ГОСТ 3757–75.

질산마그네슘 — ГОСТ 11088–75.

염기성 탄산구리(II) — ГОСТ 8927–79.

탄산납 — ГОСТ 10275–74.

염기성 탄산마그네슘 수화물 — ГОСТ 6419–78.

용액들:

질산구리 용액 — 2 mg의 구리가 1 cm³에 해당,

질산납 용액 — 2 mg의 납이 1 cm³에 해당,

질산철 용액 — 20 mg의 철이 1 cm³에 해당,

질산수은 용액 — 2 mg의 수은이 1 cm³에 해당,

질산텔루르 용액 — 10 mg의 텔루르가 1 cm³에 해당,

질산알루미늄 용액 — 10 mg의 알루미늄이 1 cm³에 해당,

질산마그네슘 용액 — 2 mg의 마그네슘이 1 cm³에 해당.

위에 열거한 용액들은 계산된 양의 금속, 그 산화물, 질산염 또는 탄산염을 질산에 용해시켜 제조한 다음 습염(젖은 염) 상태가 될 때까지 농축한다. 젖은 잔류물을 물에 용해시키고, 용액을 눈금 플라스크에 옮겨 물로 눈금까지 채운 뒤 혼합한다.

비소 용액: 수용성 변형의 비소(III) 산화물 0.264 g을 물에 용해하여 100 cm³ 용량의 눈금 플라스크에 옮기고 물로 눈금까지 채운 뒤 혼합한다. 이 용액은 1 cm³당 2 mg의 비소를 포함한다.

4.2. 100 cm³ 용량의 눈금 플라스크에 철, 마그네슘, 구리, 납의 질산 용액을 각각 15 cm³씩, 알루미늄 용액을 10 cm³ 넣고 물로 눈금까지 채운 뒤 혼합한다.

혼합물 1: 흑연 분말 6.40 g의 시료를 도자기 컵에 넣고 준비한 용액 20 cm³를 가하여 건조시킨다. 얻어진 분말에 질산수은, 질산텔루르 용액을 각각 10 cm³씩, 그리고 비소 용액 10 cm³를 순차적으로 첨가하되, 각 용액 첨가 후 질소 산화물 냄새가 없어질 때까지 혼합물을 건조시킨다(수은 용액 첨가 후 건조는 50 °C를 초과하지 않는 온도에서 실시한다).

혼합물 2: 혼합물 1을 셀레늄 기질과 중량비 2:1로 혼합한다. 얻어진 혼합물은 표준 시료 1−1(표 1)에 해당한다.

교정용 일련의 시료는 혼합물 1과 그 이후의 각 교정 시료를 흑연 분말로 2–2.5배 희석하여 준비한다. 준비된 각 교정 시료는 셀레늄 기질과 중량비 2:1로 혼합한다. 얻어진 시료들에서 불순물 함량은 셀레늄 기질과의 혼합 후 계산한다. 계산에 따른 표준 시료의 불순물량은 표 1에 제시되어 있다.

5. 셀레늄의 주요 성분 질량분율이 99%를 초과하는 경우 금속 산화물로부터 교정용 표준 시료의 제조

5.1. 교정용 표준 시료 기질의 준비

교정용 표준 시료의 기질로는 고순도 셀레늄을 사용한다. 기질 내에서 분석할 불순물의 함량을 확인한다: 분쇄한 셀레늄을 0071K 망의 체로 체질하고, 직경 3.8–4 mm, 깊이 4–5 mm의 크레이터를 가진 세 개의 흑연 전극에 채운다. 이 전극들은 대응 전극과 함께 교류 아크(18 A)에서 20초 동안 예비 가열 처리(소성)한다. 셀레늄의 스펙트럼은 슬릿 폭 0.012 mm로 삼렌즈 또는 단렌즈 조명 시스템을 갖춘 분광기에서 II형 또는 Э.С.형 판에 촬영한다. 시료의 증발 및 스펙트럼의 여기(발광)는 교류 아크에서 18 A로 수행한다. 노출 시간은 30초이다. 판을 현상하고 고정한 후, 얻어진 스펙트로그램에서 측정 대상 원소들의 분석선 존재 여부를 확인한다. 이들 선이 검출되면 표준시료를 제조한 뒤 첨가법으로 기지에서 불순물의 질량분율을 결정해야 한다(부록 3 필수). 특성곡선은 3단 감쇠기를 통해 촬영한 표준시료의 스펙트럼으로 작성해도 된다(참고 부록 4). 5.2. 시약 — 3.1항 참조. 5.3. 표준시료의 제조 사가공 및 체(0071)을 통과시킨 다음 다음의 분량을 무게로 취한다: 산화철 0.715 g, 산화구리 0.125 g, 산화납 0.540 g, 산화수은 0.540 g, 비소 무수물(мышьяковистый ангидрид) 0.657 g, 산화마그네슘 0.833 g, 산화알루미늄 0.188 g, 텔루르 2.00 g, 셀레늄-기지 4.40 g을 도자기 절구에 넣고 혼합한다. 보다 균일한 혼합물을 얻기 위해 에틸 알코올을 혼합물 1 g당 1.0–1.5 cm³(ml) 비율로 사용한 후 건조될 때까지 절구로 갈아준다. 제조된 혼합물에서 0.5 g을 취하여 절구에서 셀레늄-기지 4.5 g과 함께 갈아 원(기본) 표준시료를 만든다. 얻어진 원표준시료는 알루미늄과 구리가 각각 0.1%, 철·납·수은·비소·마그네슘이 각각 0.5%, 텔루르가 2%를 함유한다. 교정용 작업시료는 원표준시료를 먼저 10배로 희석한 다음 각 후속 시료를 셀레늄-기지로 2–2.5배씩 연속적으로 희석하여 준비한다. 교정용 표준시료의 조성은 표 2에 제시되어 있다. 표 2 표준시료 번호 | 불순물의 질량분율, % 열: 알루미늄·구리 | 철·마그네슘·비소·수은·납 | 텔루르 1–2 : 0.01 | 0.05 | 0.2 2–2 : 0.004 | 0.02 | 0.08 3–2 : 0.002 | 0.01 | 0.04 4–2 : 0.001 | 0.005 | 0.02 5–2 : 0.0005 | 0.0025 | 0.01 6–2 : 0.0002 | 0.001 | 0.004 7–2 : - | 0.0005 | 0.004 분석 대상 시료의 조성에 따라 질량분율을 변경하거나 일부 불순물을 제외할 수 있으며, 그에 따라 조성을 재계산해야 한다. 6. 금속 용액으로부터 표준시료 제조 6.1. 시약 및 용액 — 4.1항 참조. 질산철 용액: 1 cm³당 철 2 mg. 6.2. 시료 제조 용량 100 cm³ 정밀 플라스크에 구리 및 알루미늄의 질산용액을 각각 5 cm³, 마그네슘·철·납의 질산용액을 각각 25 cm³ 넣고 눈금까지 물로 채워 섞는다. 혼합물 1: 흑연 분말 6.60 g을 도자기 컵에 넣고 상기 준비용액 10 cm³를 가하여 건조한다. 얻어진 분말에 차례로 비소 및 수은 용액을 각각 2.5 cm³씩, 텔루르의 질산용액을 2.0 cm³ 넣되 각 용액을 넣을 때마다 혼합물을 건조시킨다(수은을 넣은 이후의 건조 시 온도는 50 °C를 초과하지 않도록 한다). 혼합물 2: 혼합물 1을 셀레늄-기지와 질량비 2:1로 섞는다. 얻어진 혼합물이 표준시료 1–2에 해당한다. 교정용 시료 계열은 혼합물 1 및 각 후속 교정시료를 흑연 분말로 2–2.5배 희석하여 준비한다. 준비된 각 교정시료는 셀레늄-기지와 질량비 2:1로 혼합한다. 셀레늄-기지와 혼합한 후 불순물 함량을 계산한다. 계산상 표준시료는 표 2에 제시된 불순물량을 포함한다. 7. 안티몬(선별) 질량분율 결정 시 교정용 표준시료 제조 7.1. 시약 셀레늄 — ГОСТ 6738–71에 따름. 안티몬 삼산화물(Sb2O3). 7.2. 시료 제조 Навески предварительно измельченных и просеянных через сито 0071 селена-основы массой 4,40 г и трехокиси сурьмы массой 0,60 г перемешивают в фарфоровой ступке. В полученной смеси содержится 10% сурьмы. Последовательным разбавлением этой смеси селеном-основой (не более чем в 10 раз за один прием) готовят стандартные образцы для градуировки, содержащие 0,1; 0,05; 0,02; 0,01; 0,005 и 0,002% сурьмы.

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 (справочное). СЕНСИБИЛИЗАЦИЯ ПЛАСТИНОК

ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Справочное

Оптическая сенсибилизация готовых сухих пластинок проводится методом «купания».

Пластинки, подвергаемые сенсибилизации по методу «купания», предварительно промывают в дистиллированной воде в течение 5 мин. Это необходимо для более равномерного проникновения сенсибилизации.

Далее пластинка погружается на 30 с в 5%-ный раствор салициловокислого натрия в 96%-ном этиловом спирте и, после вытирания непокрытой эмульсией стороны пластинки, сушится. Такая пластинка еще не сенсибилизирована и может сохраняться в таком виде довольно долго. Для сенсибилизации достаточно погрузить ее в воду или в 30%-ный спирт. Пленка сенсибилизатора, образовавшаяся на пластинке, при этом растворяется и раствор ее, диффундируя во внутрь слоя пластинки, вызывает сенсибилизацию.

Продолжительность действия сенсибилизирующего раствора на светочувствительный слой колеблется в пределах 2−5 мин (увеличение времени вызывает вуаль на пластинке).

Температура раствора не должна превышать 20 °C, необходимо при этом энергичное покачивание ванны.

После сенсибилизации применяют промывку (около 5 мин) в водно-спиртовой смеси (2:1), а затем в чистом спирте для ускорения сушки. Скорость сушки сенсибилизированной пластинки 15−20 мин, удобно применять подогреваемый не более чем до 30−35 °С воздух.

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 (обязательное). ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ ПРИМЕСЕЙ В ОСНОВЕ СТАНДАРТНЫХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ МЕТОДОМ ДОБАВОК

ПРИЛОЖЕНИЕ 3
Обязательное

1. Основу стандартных образцов и образцов 6−2, 5−2, 4−2, 3−2 смешивают с буферной смесью по п. 4.2.2 настоящего стандарта и набивают в кратеры графитовых электродов, предварительно обожженных в течение 10 с при 18 А в дуге переменного тока. Диаметр кратера электрода 3,8−4 мм, глубина 4−5 мм.

Спектры фотографируют на спектрографе с трехлинзовой системой освещения щели через трехступенчатый ослабитель при ширине щели 0,012 мм на пластинку типа II или Э. С. Испарение пробы и возбуждение спектра в дуге переменного тока при 18 А. Время экспозиции 30 с. На одной пластинке фотографируют по три спектра каждого градуировочного образца и основы. На эту же пластинку фотографируют спектр первого градуировочного образца через девятиступенчатый ослабитель.

2. Вместо построения характеристической кривой фотопластинки по спектру, сфотографированному через девятиступенчатый ослабитель, допускается строить кривую по самим спектрам градуировочных образцов, снятых через трехступенчатый ослабитель (справочное приложение 4).

3. Съемку спектров повторяют на второй пластинке.

Проявление и фиксирование проводят как указано в п. 4.1.2 настоящего стандарта.

По полученным спектрограммам определяют массовые доли примесей в основе методом добавок.

Строят график зависимости интенсивности аналитических линий от величины содержания примеси в стандартном образце. Экстраполированием градуировочного графика до пересечения его с осью абсцисс определяют содержание примесей в основе стандартных образцов.

Результаты анализа, полученные как среднее арифметическое результатов на двух пластинках, прибавляют к расчетному содержанию примесей в градуировочных образцах.

ПРИЛОЖЕНИЕ 4 (справочное). ПОСТРОЕНИЕ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКОЙ КРИВОЙ ФОТОПЛАСТИНКИ ПО СПЕКТРАМ ГРАДУИРОВОЧНЫХ ОБРАЗЦОВ, СНЯТЫМ ЧЕРЕЗ ТРЕХСТУПЕНЧАТЫЙ ОСЛАБИТЕЛЬ

ПРИЛОЖЕНИЕ 4
Справочное

На фотометре измеряют почернение линии определяемого элемента в спектрах градуировочных образцов во всех трех ступеньках ослабителя. Обозначают условно эти ступеньки как 100, 50 и 10%. Вычисляют разность почернения линий в 100 и 50%-ной ступеньках . Для тех спектров, в которых две ступеньки ослабления лежат в области нормальных почернений, эта разность является постоянной величиной, равной

,

где  — фактор контрастности фотопластинки;

 — разность пропускаемости ступенек ослабителя (по паспорту).

Оси ординат наносят на миллиметровую бумагу, откладывая по оси ординат почернения в масштабе 1 мм = 0,01 единицы, начиная от 0.

Вычисляют среднее из пяти-шести значений разности почернений между 100 и 50%-ными ступеньками для области нормальных почернений .

Точку 1 находят с произвольно выбранной абсциссой и ординатой, равной почернению начала прямолинейного участка характеристической кривой (приблизительно 0,50 пластинка типа ЭС). От точки 1 отсчитывают вправо число миллиметров, равное разности пропускаемости 100 и 50%-ных ступенек ослабителя (по паспорту ослабителя), умноженной на 100, и ставят точку 2.

От полученной точки 2 откладывают вверх число миллиметров, равное средней величине разности почернений , умноженной на 100, и ставят точку 3.

Полученную точку 3 соединяют прямой линией с точкой 1 и продолжают прямую до 1,80. Эта прямая соответствует области нормальных почернений характеристической кривой.

В тех случаях, если почернение линий в 100%-ной ступеньке слишком велико, вместо разности между 100 и 50%-ной ступеньками построение проводят по разности между 50 и 10%-ной ступеньками.

Для построения области недодержек используют спектры, в которых первая из ступенек лежит в нормальной области, вторая — в области недодержек.

Находят для одного спектра на прямолинейном участке характеристической кривой точку, ордината которой равна почернению линии в 100%-ной (или 50%-ной) ступеньке. От этой точки отсчитывают влево число миллиметров, равное разности пропускаемости ступенек ослабителя, умноженной на 100, и для этой абсциссы находят точку с ординатой, равной почернению той же линии в более ослабленной ступеньке.

Так поступают со всеми измеренными почернениями. Полученные точки соединяют плавной кривой с началом прямолинейного участка.

На оси абсцисс наносят значения в масштабе 1 мм =0,01 единицы, начиная от произвольно выбранного начала координат.