ГОСТ 9816.4-84
ГОСТ 9816.4−84 텔루륨(공업용). 분광분석법 (변경 N 1 포함)
ГОСТ 9816.4−84
그룹 В59
소련 국가 표준
공업용 텔루륨
분광분석법
Technical tellurium. Method of spectral analysis
ОКСТУ 1709
유효기간 01.07.85
~ 01.07.90*
__________________
* «주석» 라벨을 참조하십시오.
본 규격은 소비에트 연방 유색금속부에서 제정함
작성자
А.А.Бабаджан,
제출: 소비에트 연방 유색금속부
위원회 위원
승인 및 공포: 소비에트 연방 표준국 위원회 1984년 6월 27일 결의 N 2149에 의해 승인·시행됨
대체:
변경 N 1이 추가됨 — 소비에트 연방 제품 품질관리 및 표준위원회 1989.12.20 결의 N 3908에 의해 승인·시행, 1990.07.01부터 시행
변경 N 1은 데이터베이스 제작자가 ИУС N 3, 1990년 텍스트에 따라 반영함
본 규격은 공업용 텔루륨 중 불순물을 분광법으로 다음 질량백분율 범위에서 결정하는 방법을 규정한다:
구리: 0.001 ~ 0.35%;
철: 0.0005 ~ 0.2%;
납: 0.0005 ~ 1.5%;
나트륨: 0.005 ~ 0.35%;
셀레늄: 0.05 ~ 0.5%;
규소(실리콘): 0.0005 ~ 0.25%;
알루미늄: 0.0005 ~ 0.15%;
은: 0.001 ~ 0.004%;
금: 0.0005 ~ 0.02%;
백금: 0.0005 ~ 0.02%;
로듐: 0.0005 ~ 0.02%;
팔라듐: 0.001 ~ 0.02%;
이리듐: 0.005 ~ 0.2%;
루테늄: 0.005 ~ 0.2%;
주석: 0.0005 ~ 0.02%.
불순물의 측정은 시료의 증발 및 스펙트럼 유발을 위해 교류 아크를 사용하고, '세 가지 표준' 방법(three-standards method)을 적용하여 수행한다.
1. 일반 요구사항
1.1. 분석 방법에 대한 일반 요구사항 —
2. 장비, 시약 및 용액
중간 분산의 스펙트로그래프(임의형) — 삼렌즈 조명 시스템 및 3단 감쇠장치가 있는 것.
교류 아크 발생기: ИВС-28형 또는 ДГ-2형.
임의형 마이크로포토미터.
아가트(마노) 절구와 공이(스푼형 공이).
탄소 전극 연마기.
적외선 램프 — ТУ 16−87 ИФМР.675000.006 ТУ*.
________________
* 여기 및 이후 본문에 언급된 ТУ(기술사양)는 제공되지 않음. 추가 정보는 링크 참조. — 데이터베이스 제작자 주.
플라스틱 또는 폴리에틸렌 용기.
스펙트로그래프용 사진판 II형, 감도 10 ~ 20 단위(ГОСТ 10691.1−84).
포지티브 영화 필름 MЗ-3−35형, 감도 0.7 ~ 1.0 단위(ГОСТ 20945−80).
스펙트럼용 고순도 탄소(흑연) 전극, 등급 С-3, ОСЧ 7−3(ГОСТ 4425−72):
분화구(크레이터) 직경 2.8 mm, 깊이 4 및 6 mm;
직경 6 mm, 길이 30 ~ 50 mm, 원추형으로 연마된 것;
분화구 직경 3.5 ~ 4 mm, 깊이 2 ~ 2.5 mm, '컵(리움카)' 형상.
고순도 분말 흑연(ГОСТ 23463−79) 또는 스펙트럼용 고순도 탄소 전극을 분쇄하여 얻은 탄소 분말.
현상액(현상제):
메톨(метол) — 1 g (ГОСТ 25664−83);
무수 황산나트륨(натрий сернистокислый безводный) — 25 g (ГОСТ 195−77);
하이드로퀴논(гидрохинон) — 5 g (ГОСТ 19627−74);
브롬화칼륨(калий бромистый) — 1 g (ГОСТ 4160−74);
무수 탄산나트륨(натрий углекислый безводный) — 20 g (ГОСТ 83−79);
증류수로 1000 cm³까지.
정착액(픽서):
결정형 티오황산나트륨(натрия тиосульфат кристаллический) — 250 g (ГОСТ 244−76);
칼륨 메타바이설파이트(피로형, калий сернистокислый пиро) — 25 g;
증류수로 1000 cm³까지.
다른 대비 효과가 있는 현상액 및 정착액의 사용을 허용한다.
산화비스무트(Висмута окись) — ГОСТ 10216−75.
질산칼륨(Калий азотнокислый) — ГОСТ 4144−79.
교정용 표준시료(어느 등급이든) 준비.
(수정판, 변경 N 1).
3. 분석 준비
3.1. 교정용 표준시료의 제조 방법은 의무 부록에 제시되어 있다.
3.2 완충 혼합물의 조제
탄소 분말 또는 흑연 분말 4.89 g과 산화비스무트 0.11 g을 아가트 절구에 넣고 잘 혼합한다. 얻어진 혼합물에서 0.5 g을 취하여 아가트 절구에 옮기고, 0.42 g의 질산칼륨과 4.08 g의 탄소 분말 또는 흑연 분말과 함께 갈아준다. 이렇게 조제된 완충 혼합물은 비스무트 0.2% 및 칼륨 4%를 포함한다.
완성된 완충 혼합물의 양은 두 배로 늘릴 수 있다.
4. 분석절차
4.1. 공업용 텔루륨과 교정용 표준시료를 아가트 절구에 버퍼 혼합물과 함께 질량비 1:1(200 또는 400 mg의 공업용 텔루륨 또는 시료와 200 또는 400 mg의 혼합물)로 30−35분 동안 혼합하고, 직경 2,8 mm, 깊이 44 mm의 함몰부가 있는 흑연 전극에 눌러 넣는다. 전극은 사전에 (15±0,1) A의 교류 아크에서 15−20초 동안 가열 처리한다.
백금족 금속을 함유한 공업용 텔루륨을 분석할 경우에는 컵형(„рюмка“) 전극, 필름(영화용 필름) 및 탄소 분말 형태의 버퍼를 사용하며 버퍼와 시료의 질량비는 1:5로 한다.
각 분석시료와 교정용 표준시료마다 전극을 4개씩 준비한다.
(수정된 편집, 변경 N 1).
4.2. 스펙트럼은 3단 감쇠기와 3렌즈 조명 시스템을 통해 분광기 슬릿 폭 0,015 mm에서 촬영한다. 중간 조리개 5 mm. 3단 감쇠기 없이 스펙트럼을 촬영하는 것도 허용된다.
시료의 기화 및 스펙트럼의 발생은 7−8 A의 교류 아크에서 수행하며, 노출시간은 (60±5) 초이다. 아크 간격 — 2,5 mm.
카세트에는 II형 판 크기 912 cm 또는 포지티브 필름을 넣는다. 장파장 영역의 스펙트럼은 사진판 „Изоорто“에 촬영한다.
한 판 또는 필름에 각 분석시료와 표준시료의 스펙트럼을 각각 2개씩 촬영한 후, 다른 판(필름)에서 촬영을 반복한다.
판 또는 필름은 (20±2)°C에서 현상(현상 시간은 판 포장에 표기), 정착, 흐르는 물에서 20−25분 동안 세척, 증류수로 헹구고 건조시킨다.
(수정된 편집, 변경 N 1).
5. 결과 처리
5.1. 불순물의 질량분율을 결정할 때에는 다음에 제시된 파장(nm) 쌍에 대해 불순물선과 비교선의 흑화도(광밀도)를 측정하고, 측정되는 선들의 흑화도가 정상 범위에 들어오도록 적절한 감쇠단을 선택하여 광밀도를 측정한다:
| 구리 |
— 296,12 |
비스무트 |
— 289,79 |
||
| 비스무트 | — 289,79 또는 (구리의 경우) | ||||
| — 327,39 |
텔루륨 |
— 317,51 | |||
| 알루미늄 |
— 308,22 |
비스무트 |
— 289,79 | ||
| — 309,27 |
텔루륨 |
— 317,51 | |||
| 주석 |
— 286,32 |
배경 | |||
| — 283,99 |
배경 | ||||
| 납 |
— 287,30 |
비스무트 |
— 289,79 | ||
| — 283,30 |
텔루륨 |
— 276,97 | |||
| 철 |
— 303,70 |
비스무트 |
— 289,79 | ||
| — 259,94 |
텔루륨 |
— 276,97 | |||
| 규소 |
— 288,16 |
비스무트 |
— 289,79 | ||
| 나트륨 |
— 330,20 |
비스무트 |
— 289,79 | ||
| — 588,99 |
배경 | ||||
| 은 |
— 328,06 |
텔루륨 |
— 317,51 또는 (은의 경우) | ||
| 비스무트 | — 289,79 | ||||
| 백금 |
— 265,94 |
텔루륨 |
— 276,97 | ||
| 팔라듐 |
— 342,12 |
텔루륨 |
— 317,51 | ||
| 로듐 |
— 339,68 |
텔루륨 |
— 317,51 | ||
| 이리듐 |
— 266,47 |
텔루륨 |
— 276,97 | ||
| 루테늄 |
— 287,49 |
텔루륨 |
— 276,97 | ||
| 금 | — 267,59 | 텔루륨 | — 276,97 |
참고. 팔라듐이 없을 경우 나트륨 선 330,20 nm를 사용한다.
흑화도 차이는 각 표준시료와 분석시료의 두 스펙트럼에 대한 산술평균을 구하여 계산하고, 교정 그래프를 다음 좌표계로 작성한다 — , 여기서
— 교정용 표준시료의 불순물 질량분율(퍼센트).
계산된 값을 이용하여 각 분석시료의 불순물 질량분율을 그래프에서 결정한다.
(수정된 편집, 변경 N 1).
5.2. 네 번의 병행 측정 결과 중 최대값과 최소값의 차이는 신뢰확률 0,95에서 표 1에 제시된 절대 허용 편차 값을 초과해서는 안 된다.
(개정된 판, 개정 N 1).
표 1
| 측정 대상 원소 |
질량분율 구간, % |
허용 절대 편차, % |
| 팔라듐, 백금, 로듐, 루테늄, 이리듐, 금, 은, 주석 | От 0,0005 до 0,001 включ. |
0,001 |
| Св. 0,001 до 0,003 |
0,003 | |
| 0,003 до 0,01 |
0,006 | |
| 0,01 до 0,03 |
0,01 | |
| 0,03 до 0,1 |
0,02 | |
| 0,1 до 0,3 |
0,05 | |
| 구리, 철, 규소, 알루미늄, 나트륨 | От 0,0005 до 0,001 включ. |
0,0004 |
| Св. 0,001 до 0,003 |
0,001 | |
| 0,003 до 0,01 |
0,007 | |
| 0,01 до 0,03 |
0,01 | |
| 0,03 до 0,1 |
0,02 | |
| 0,1 до 0,3 |
0,05 | |
| 0,3 до 0,6 |
0,08 | |
| 납 |
От 0,0005 до 0,001 включ. |
0,001 |
| Св. 0,001 до 0,003 |
0,003 | |
| 0,003 до 0,01 |
0,006 | |
| 0,01 до 0,03 |
0,01 | |
| 0,03 до 0,1 |
0,02 | |
| 0,1 до 0,3 |
0,05 | |
| 0,3 до 1,0 |
0,2 | |
| Св. 1,0 |
0,4 |
6. 셀렌의 측정
6.1. 분석을 수행하기 전에 교정용 표준 시료를 준비한다: 셀렌 1,5 g을 텔루륨 기질 8,5 g과 혼합한다. 얻어진 혼합물에서 1,5 g을 취하여 텔루륨 기질 13,5 g과 혼합한다 — 이것이 교정용 기본 표준 시료이다. 이후의 표준 시료들은 기본 표준 시료를 연속적으로 희석한 다음, 각 이어지는 시료를 텔루륨 기질로 2,5배씩 희석하여 준비한다.
교정용 표준 시료의 셀렌 질량분율은 표 2에 제시되어 있다.
표 2
| 표준 시료 표시 |
2−1 |
2−2 |
2−3 |
2−4 |
| 셀렌 질량분율, % |
0,6 |
0,24 |
0,096 |
0,038 |
분석 샘플의 셀렌 질량분율에 따라 교정용 표준 시료의 셀렌 함량을 변경하는 것이 허용된다.
각 시료와 표준 시료로부터 전극을 각각 여섯 개씩 준비하고, 직경 2,8 mm, 깊이 6 mm의 분화구가 있는 탄소 전극에 이를 채운다.
6.2. 분광 사진은 3단 감쇠기를 통하여 분광기 슬릿 너비 0,026 mm에서 촬영한다. 슬릿 조명은 3렌즈 콘덴서(두 렌즈는 비복색)로 한다. 중간 조리개는 원형이다. 아크 간격은 2,5 mm이다. 카세트(단파장 영역)에는 감광 처리된 II형 판을 넣는다. 시료의 증발 및 스펙트럼의 여기(발생)는 교류 아크에서 (12±0,1) A의 전류로 수행하고, 노출 시간은 (60±5) 초이다.
한 판에 분석 시료와 교정용 표준 시료 각각의 스펙트럼을 3개씩 촬영한다. 촬영을 다른 판에서도 반복한다.
(개정된 판, 개정 N 1).
6.3. 셀렌선의 흑화 밀도는 파장 207,4 nm에서, 비교용 텔루륨선은 파장 207,0 nm에서 측정하되, 측광을 위해 측정된 선들의 흑화도가 정상 영역에 들어오는 감쇠 단계 중 하나를 선택한다.
셀렌의 질량분율은 5.1항에 따라 결정한다. 여섯 번의 병행 측정 결과 중 최대값과 최소값의 차이는 신뢰확률 0,95에서 표 3에 제시된 절대 허용 편차 값을 초과해서는 안 된다.
(개정된 판, 개정 N 1).
표 3
| 셀렌 질량분율 % |
허용 절대 편차, % |
| 0,05 초과에서 0,1 포함 |
0,02 |
| 0,1 초과에서 0,3 포함 |
0,05 |
| 0,3 초과에서 0,6 포함 |
0,08 |
부록 (의무). 교정용 표준 시료의 제조
부록
의무적
1. 본 방법에 따라 각 사업장에서 제조된 교정용 표준 시료는 ГОСТ 8.315−78에 따라 인증되어야 한다.
2. 금속, 금속 산화물 및 금속 용액으로부터 교정용 표준 시료를 제조하는 것이 허용된다.
3. 교정용 표준 시료의 제조(금속 및 금속 산화물로부터)
3.1. 시약, 용액
염화나트륨 — ГОСТ 4233–77에 따름.
고순도 텔루륨.
은 — ГОСТ 6836–80.
금 — ГОСТ 6835–80.
이산화규소 — ГОСТ 9428–73.
이염화주석(주석(II) 염화물).