ГОСТ 23862.10-79

ГОСТ 23862.10−79 희토류 금속 및 그 산화물. 바나듐, 텅스텐, 철, 코발트, 망간, 구리, 몰리브덴, 니켈, 나이오븀, 납, 탄탈, 티타늄 및 크롬 불순물의 화학-분광법(변경 N 1, 2 포함)

ГОСТ 23862.10−79

그룹 В59

국가간 표준

희토류 금속 및 그 산화물

바나듐, 텅스텐, 철, 코발트, 망간, 구리, 몰리브덴, 니켈, 나이오븀, 납, 탄탈, 티타늄 및 크롬 불순물의 화학-분광법

희토류 금속 및 그 산화물. 바나듐, 텅스텐, 철, 코발트, 망간, 구리, 몰리브덴, 니켈, 나이오븀, 납, 탄탈, 티타늄 및 크롬 불순물의 화학-분광법

МКС 77.120.99
ОКСТУ 1709

시행일 1981−01−01

소련 국가표준위원회의 1979년 10월 19일 결의 N 3988에 의해 시행일이 1981-01-01로 정해짐.

유효기간 제한은 국가간 표준화·계량·인증 위원회의 프로토콜 N 7−95에 따라 해제됨 (ИУС 11−95).

변경 N 1, 2가 포함된 판(1985년 4월, 1990년 5월 승인) (ИУС 7−85, 8−90).


본 표준은 이트륨, 란탄, 이테르븀, 뤼테슘 및 그 산화물에서 바나듐, 텅스텐, 철, 코발트, 망간, 구리, 몰리브덴, 니켈, 나이오븀, 납, 탄탈, 티타늄 및 크롬을 정량하는 화학-분광법(방법 I)과 희토류 금속 및 그 산화물(세륨 및 이산화세륨 제외)에서 바나듐, 망간, 철, 코발트, 니켈, 구리를 정량하는 화학-분광법(방법 II)을 규정한다.

(수정된 판, 변경 N 1, 2).

1. 일반 요구사항

1.1. 분석 방법에 대한 일반 요구사항 — ГОСТ 23862.0−79에 따름.

방법 I

이트륨, 란탄, 이테르븀, 뤼테슘 및 그 산화물에서 바나듐, 텅스텐, 철, 코발트, 망간, 구리, 몰리브덴, 니켈, 나이오븀, 납, 탄탈, 티타늄 및 크롬을 정량하는 화학-분광법은 불순물 원소들의 디에틸디티오카르바메이트, 티옥시네이트 또는 수산화물의 콜로이드 용액을 폴리아크릴아미드의 존재하에 분말 흑연과 함께 플로큘레이션하여 불순물을 집단 농축한 후, 얻어진 농축액을 분광 분석하는 데에 기초한다.

측정 가능한 불순물의 질량분율 범위:

바나듐	5·10% 이상 1·10% 이하
텅스텐	5·10% 이상 1·10% 이하
철	5·10% 이상 2·10% 이하
코발트	2·10% 이상 1·10% 이하
망간	최소 5·10% 최대 5·10%
구리	최소 5·10% 최대 5·10%
몰리브덴	최소 2·10% 최대 5·10%
니켈	최소 2·10% 최대 1·10%
나이오븀	최소 1·10% 최대 3·10%
납	최소 2·10% 최대 1·10%
탄탈럼	최소 1·10% 최대 3·10%
티타늄	최소 1·10% 최대 5·10%
크롬	5·10%에서 2·10%까지.

제1절. (개정판, 개정 № 1, 2).

2. 기기, 시약 및 용액

회절 분광기 ДФС-8, 격자 600 선/мм, 1차 반사차수에서 작동하는 것 및 삼렌즈 조명 시스템을 갖춘 것 또는 이와 동등한 장비.

아크 발생기 ДГ-2, 추가 리오스타트(가변저항) 부착 또는 동등한 장비, 직류 아크의 점화를 고주파 방전으로 할 수 있도록 조정된 것.

적외선 램프 ИКЗ-500, 전압 조절기 РНО-250−0,5형 또는 동등한 것.

유기유리(아크릴) 박스.

정류기 250−300 В, 30−50 А.

스펙트로프로젝터 ПС-18 또는 동등한 것.

비기록형 마이크로포토미터 МФ-2형 또는 동등한 것.

분석용 저울 АДВ-200형.

토션 저울(비틀림 저울) ВТ-500형.

전기판(전기 히터).

전극 연삭기.

플루오로플라스틱-4(불소수지) 또는 유기유리로 된 절구(모르타르).

폴리에틸렌 용기(병).

감광판(포토플레이트) 타입 ЭС.

특수 순도의 분말 흑연(ГОСТ 23463–79에 따름).

스펙트럼용 카본(탄) ОСЧ-7−3.

스펙트럼용 카본(угли) ОСЧ-7−3에서 가공한 전극, 직경 6 mm, 크레이터 직경 4 mm, 깊이 6 mm.

스펙트럼 분석용 성형 흑연 전극 ОСЧ-7−4, 직경 6 mm, 원추형으로 연마된 것 또는 동일한 형태로 ОСЧ-7−3에서 가공한 전극.

각 전극 쌍은 분석 직전에 직류 아크 15 A에서 15 s 동안 소성(가열)하여 세척한다.

티글(도가니) «Гуча», 직경 15 mm.

바나듐(V) 산화물, 분석용(고순도).

텅스텐(VI) 산화물, 분광분석용, 분석용(고순도).

철 산화물, 분석용(고순도).

코발트 산화물(закись-окись), ГОСТ 4467–79에 따름, 분석용(고순도).

망간(IV) 산화물, 무수물, 특별 고순도(등급 9−2).

구리 산화물, ГОСТ 16539–79에 따름, 분말형.

몰리브덴(VI) 산화물, 분석용(고순도).

니켈 산화물, ГОСТ 4331–78에 따름, 순수(정제).

니오븀(V) 산화물, 특별 고순도(등급 7−3).

납 산화물, 분석용(고순도).

탄탈(Ⅴ) 산화물, 특별 고순도(등급 7−3).

티타늄(IV) 산화물, 특별 고순도(등급 6−2).

크롬 산화물, ГОСТ 2912–79에 따름.

이중 증류수 또는 이온 제거수(비저항 20−24 МОм·см).

염산, 특별 고순도(ГОСТ 14261–77에 따름), 희석 1:1 및 1:10.

수용성 암모니아(ГОСТ 24147–80), 특별 고순도, 1:10로 희석.

나트륨 N,N'-디에틸디티오카바메이트(ГОСТ 8864–71), 농도 20 및 1 g/дм 용액.

나트륨 메르캅토퀴놀리네이트(티옥시네이트), 신선하게 조제한 용액, 농도 5 g/дм.

정제된 에틸 알코올(기술용), ГОСТ 18300–87에 따름, 석영 장치에서 2회 증류한 것.

란탄 산화물, 측정 대상 불순물에 대해 순수한 것.

이터븀(иттербия) 산화물, 측정 대상 불순물에 대해 순수한 것.

루테튬(лютеция) 산화물, 측정 대상 불순물에 대해 순수한 것.

이트륨(иттрия) 산화물, 측정 대상 불순물에 대해 순수한 것.

폴리아크릴아미드, 수용액 농도 2 g/дм.

범용 지시약 페이퍼(유니버설 인디케이터 페이퍼).

염화나트륨, 특별 고순도(등급 6−2).

제2절. (개정판, 개정 № 1, 2).

3. 분석 준비

3.1. 비교 표준 시료의 제조

3.1.1. 분말 흑연(ГОГП)을 기초로 하여 각 측정 대상 불순물을 1%씩 함유하는 주(기본) 표준시료는 다음과 같이 제조한다.

Навески массой 0,0178 г ванадия окиси (V), 0,0126 г окиси вольфрама (VI), 0,0143 г окиси железа, 0,0137 г закись-окись кобальта, 0,0158 г окиси марганца (IV) безводной, 0,0125 г окиси меди порошкообразной, 0,0150 г окиси молибдена (VI), 0,0141 г черной окиси никеля, 0,0143 г окиси ниобия (V), 0,0108 г окиси свинца, 0,0122 г окиси тантала (V), 0,0167 г окиси титана (IV), 0,0146 г окиси хрома помещают в ступку из органического стекла или фторопласта-4 и добавляют 0,8156 г порошкового графита. Смесь тщательно перетирают с этиловым спиртом в течение 50 мин и высушивают под инфракрасной лампой. Во избежание внесения загрязнений перетирание в ступке и высушивание под инфракрасной лампой проводят в боксе из органического стекла.

3.1.2. Образцы сравнения ОС 1-ОС 3 готовят последовательным разбавлением ГОГП, а затем каждого последующего образца порошковым графитом.

Содержание каждой из определяемых примесей в образцах ОС 1-ОС 3 и вводимые в смесь навески порошковым графитом предыдущего образца приведены в табл.1.

Таблица 1

Обозначение образца	Массовая доля каждого из определяемых элементов, %	Масса навески, г
		порошкового графита	предыдущего образца (в скобках указано его обозначение)
ОС 1	1·10	1,800	0,200 (ГОГП)
ОС 2	3·10	1,400	0,600 (ОС 1)
ОС 3	1·10	1,333	0,667 (ОС 2)
ОС 4	3·10	1,400	0,600 (ОС 3)
ОС 5	1·10	1,333	0,667 (ОС 4)
ОС 6	3·10	1,400	0,600 (ОС 5)
ОС 7	1·10	1,333	0,667 (ОС 6)
ОС 8	3·10	1,400	0,600 (ОС 7)

Указанные в табл.1 навески порошкового графита и предыдущего образца помещают в ступку, тщательно перетирают с этиловым спиртом в течение 30 мин и высушивают под инфракрасной лампой. Перетирание в ступке и высушивание под инфракрасной лампой проводят в боксе из органического стекла.

4. ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА

4.1. Концентрирование примесей

Концентрирование проводят в боксе из органического стекла, нагревательные элементы электроплитки должны быть закрыты графитовой или кварцевой кюветой.

(번역)

시료 질량 0,0178 г의 바나듐(V) 산화물, 0,0126 г의 텅스텐(VI) 산화물, 0,0143 г의 철 산화물, 0,0137 г의 코발트 산화물(산화·환원 혼합), 0,0158 г의 무수 망간(IV) 산화물, 0,0125 г의 분말 형태의 구리 산화물, 0,0150 г의 몰리브데넘(VI) 산화물, 0,0141 г의 흑색 니켈 산화물, 0,0143 г의 니오븀(V) 산화물, 0,0108 г의 납 산화물, 0,0122 г의 탄탈럼(V) 산화물, 0,0167 г의 티타늄(IV) 산화물, 0,0146 г의 크롬 산화물을 유기 유리 또는 플루오로플라스틱-4로 된 절구에 넣고 0,8156 г의 흑연 분말을 첨가한다. 혼합물을 에탄올과 함께 50분간 잘 갈아준 다음 적외선 램프로 건조한다. 오염 유입을 막기 위해 절구에서의 분쇄 및 적외선 램프에서의 건조는 유기 유리 박스 내에서 수행한다.

3.1.2. 비교 시료 ОС 1–ОС 3는 ГОГП를 단계적으로 희석한 다음 각 후속 시료를 흑연 분말로 희석하여 제조한다.

표 1에는 ОС 1–ОС 3 시료에 포함된 각 검출 불순물의 함량 및 이전 시료의 흑연 분말로 혼합물에 첨가되는 시료 질량이 나와 있다.

표 1

시료 표기	각 검출 원소의 질량 분율, %	시료 질량, g
		흑연 분말	이전 시료 (괄호 안에 표기됨)
ОС 1	1·10	1,800	0,200 (ГОГП)
ОС 2	3·10	1,400	0,600 (ОС 1)
ОС 3	1·10	1,333	0,667 (ОС 2)
ОС 4	3·10	1,400	0,600 (ОС 3)
ОС 5	1·10	1,333	0,667 (ОС 4)
ОС 6	3·10	1,400	0,600 (ОС 5)
ОС 7	1·10	1,333	0,667 (ОС 6)
ОС 8	3·10	1,400	0,600 (ОС 7)

표 1에 기재된 흑연 분말 및 이전 시료의 시료 질량을 절구에 넣고 에탄올과 함께 30분간 충분히 연마한 후 적외선 램프로 건조한다. 절구에서의 연마 및 적외선 램프에서의 건조는 유기 유리 박스 내에서 실시한다.

4. 분석의 수행

4.1. 불순물의 농축

농축은 유기 유리 박스 내에서 실시하며, 전기 가열판의 가열 요소는 흑연 또는 석영 큐벳으로 덮어야 한다.

희토류 산화물(РЗЭ) 시료 2 g 또는 이에 해당하는 희토류 금속(РЗМ)을 100 cm³ 용량의 석영 비커에 넣고, 염산을 1:1로 희석한 용액 7–12 cm³를 가하여 가열하면서 용해한다. 이때 비커는 시계접시로 덮는다. 용액을 습염(수분을 머금은 염) 상태가 될 때까지 졸여 잔류물을 약 50 cm³의 물에 용해시킨다. 암모니아 용액(1:10) 또는 염산을 1:10으로 희석한 용액으로 보편 지시약지로 pH = 2가 되도록 조정한다. 얻은 용액을 약 90 °C까지 가열한 다음, 나트륨 디에틸디티오카바메이트 용액(20 g/dm³) 2.5 cm³과 폴리아크릴아미드 용액 5 cm³를 가하고 최종 용액의 pH가 5.5가 되도록 한다. 비커 내용물을 석영 막대로 3–5분간 충분히 교반하여 불용성의 젤상 갈색 입자—섬유가 형성되게 한 뒤, 분말 흑연 50 mg과 나트륨 티옥시네이트 용액 2 cm³를 가하고 다시 3–5분간 세게 저어 혼합한다. 실온까지 냉각된 용액과 침전물을 블루 리본 여과지(«синяя лента»)를 깔아 구차 도가니(тигель Гуча)에 넣고 분젠 플라스크에 흡인 장치를 연결하여 여과한다. 침전물(불순물 농축물)은 나트륨 디에틸디티오카바메이트 용액(1 g/dm³)을 5 cm³씩 나누어 2–3회 첨가하여 세척하되, 막대와 비커 및 도가니의 벽을 충분히 씻어낸다. 그런 다음 도가니(침전물을 담은)를 30 cm³ 용량의 석영 컵에 넣고(여과지는 아래쪽에 두고) 여과지를 재와화하지 않고 건조시켜(전기 가열판에서) 10–15분간 완전 건조시킨다. 침전물과 여과지를 함께 10 cm³ 용량의 석영 컵(여과지가 아래에 오도록)으로 옮겨 전기 가열판 위에서 석영판으로 덮은 상태에서 3–5분간 여과지를 재화(오조화)한다. 여과지의 재화가 끝나면 컵을 시계접시로 덮어 전기 가열판에서 추가로 10–15분간 유지한다. 냉각 후 건조 잔류물을 컵에서 칼크지(트레이싱 페이퍼)로 옮기고, 염화나트륨 2 mg을 첨가하여 혼합한 다음, 얻어진 혼합물로 스펙트럼 분석용 전극을 채운다. 각 시료의 분석은 세 개의 병렬 분취로 수행한다. 각 분석 배치와 동시에, 모든 분석 단계에 대해 세 개의 대조 실험을 실시하여 세 개의 건잔류물(농축물)을 얻는다. 4.2. 농축물의 스펙트럼 분석 대조 실험에서 얻은 각 농축물과 비교 시료 ОС 1–ОС 8의 각각 50 mg에 대해 각각 2 mg의 염화나트륨과, 측정되는 불순물에 관하여 스펙트럼적으로 순수한 분석 대상 희토류 원소의 산화물을 첨가하고 혼합한다. 각 혼합물을 직경 4 mm, 깊이 6 mm의 전극(양극) 분화구에 넣는다. 원추형으로 연삭된 상부 전극은 음극으로 사용되며, 전극 사이에 직류 아크를 점화한다. 전류는 15 A, 전극 간 거리 는 3 mm이다. 스펙트럼은 DFS-8 분광기에서 촬영하며, 사진건판 E.S.를 사용한다. 분광기 슬릿 폭은 15 μm, 노출 시간은 45 s이다. 3렌즈 콘덴서의 중간 조리개는 분석선 인근 배경의 감광도가 정상 감광도 영역에 들어가도록 조정한다. 동일한 조건에서 분석 시료의 농축물 스펙트럼을 각 3회 촬영하고, 대조실험에서 얻은 농축물의 스펙트럼을 각 3회, 비교 시료 각각의 스펙트럼을 각 2회 촬영한다. 노출한 사진건판은 현상하고 물로 세척한 다음 정착(fix) 처리하고 흐르는 물에서 15분간 세척한 뒤 건조시킨다. 5. 결과 처리 5.1. 각 스펙트로그램에서 측정 대상 원소의 분석선의 감광도(흑화도)(표 2 참조)와 인접 배경의 감광도를 광도로 측정하고, 이들 감광도의 차이를 계산한다. 두 병렬 측정값으로부터 산술평균값을 구한다. 교정(보정) 곡선은 적절한 좌표계에 작성하며, 비교 시료들의 값을 사용한다. 표 2 Определяемый элемент — 분석 원소 : Длина волны аналитической линии, нм — 분석선 파장 (nm) - 바나듐 (Vanadium) — 318.54 nm - 텅스텐 (Wolfram / Tungsten) — 294.44 nm* - 철 (Iron) — 248.33 nm - 코발트 (Cobalt) — 242.49 nm; 304.4 nm - 망간 (Manganese) — 280.11 nm - 구리 (Copper) — 324.75 nm - 몰리브덴 (Molybdenum) — 317.03 nm - 니켈 (Nickel) — 300.25 nm** - 니오븀 (Niobium) — 295.09 nm - 납 (Lead) — 283.31 nm - 탄탈 (Tantalum) — 271.47 nm*** - 티타늄 (Titanium) — 307.86 nm; 302.16 nm - 크롬 (Chromium) — 284.33 nm ________________ * 이터븀 및 그 산화물 분석 시 — 294.70 nm. ** 이트륨 및 그 산화물 분석 — 301,20 нм; 이트륨과 란탄 분석 — 305,0 нм.

*** 란탄 및 그 산화물에 대한 탄탈 불순물 분석은 수행되지 않는다.


분석 시료의 농축물 및 대조 실험의 농축물에 대해, 이미지 의 값을 사용하여 교정곡선에 따라 측정된 불순물의 평균 함량을 구한다.

5.2. 측정 원소의 질량분율()를 백분율(%)로 계산한다.

,

여기서 — 흑연 분말 수집체의 질량, mg;

— 분석 시료의 취부 질량, mg;

— 분석 시료 농축물에서 측정된 원소의 평균 질량분율, %;

— 대조 실험의 농축물에서 측정된 원소의 평균 질량분율, %.

5.3. 세 번의 병행 측정 결과 간의 편차(최댓값과 최솟값의 비) 및 두 번의 분석 결과 간의 편차(큰 값과 작은 값의 비)는 표 3에 기재된 허용 편차를 초과해서는 안 된다.

표 3

측정 원소	질량분율, %	허용 편차
바나듐	5·10	3,1
	3·10	2,9
	1·10	2,7
텅스텐	5·10	2,8
	3·10	2,5
	1·10	2,4
철	3·10	3,5
	6·10	3,1
	2·10	3,0
코발트	2·10	2,7
	3·10	2,3
	1·10	2,2
망간	5·10	2,5
	1·10	2,4
	5·10	2,0
구리	5·10	3,5
	1·10	3,2
	5·10	3,2
몰리브데넘	2·10	2,0
	8·10	2,7
	5·10	2,5
니켈	2·10	3,3
	1·10	2,8
	1·10	2,6
니오븀	1·10	2,6
	1·10	2,3
	3·10	2,0
납	2·10	2,7
	1·10	2,3
	1·10	2,2
탄탈럼	1·10	2,5
	1·10	2,3
	3·10	2,3
티타늄	1·10	2,7
	8·10	2,5
	5·10	2,4
크롬	5·10	2,5
	2·10	2,3
	2·10	2,3

방법 II

희토류 금속과 그 산화물(세륨 및 이산화세륨 제외) 중 바나듐, 망간, 철, 코발트, 니켈, 구리의 정량을 위한 화학-분광학적 방법은 분말 흑연 기반의 불순물 농축물에서 불순 원소들을 동시에 분광학적으로 측정하는 데에 기초한다.

불순물 농축물은 이들의 디에틸디티오카바메이트 및 티옥시네이트 착화합물을 불소수지 컬럼에 흡착시킨 후 아세톤으로 불순 원소를 탈착시키고, 유기 용액을 분말 흑연상에서 증발시켜 농축함으로써 얻는다.

측정 대상 불순물의 질량분율 범위:

바나듐	от 3·10% до 3·10%
망간	от 1·10% до 1·10%
철	от 3·10% до 3·10%
코발트	от 3·10% до 3·10%
니켈	от 1·10% до 3·10%
구리	от 2·10% до 1·10%.

(Измененная редакция, Изм. N 2).

6. АППАРАТУРА, РЕАКТИВЫ И РАСТВОРЫ

Дифракционный спектрограф ДФС-8 с решеткой 600 штр/мм и трехлинзовой системой освещения или аналогичный.

Дуговой генератор ДГ-2 с дополнительным реостатом или аналогичный, приспособленный для поджига дуги постоянного тока высокочастотным разрядом.

Выпрямитель 250−300 В, 30−50 А.

Спектропроектор ПС-18 или аналогичный.

Нерегистрирующий микрофотометр типа МФ-2 или аналогичный.

Бокс из органического стекла.

Аналитические весы типа АДВ-200.

Торсионные весы типа ВТ-500.

Инфракрасная лампа ИКЗ-500 с регулятором напряжения/тока типа РНО-250−0,5 или аналогичным.

Электроплитка.

Станок для заточки электродов.

Ступки из фторопласта-4 или органического стекла.

Фотопластинки типа ЭС.

Порошковый графит особой чистоты по ГОСТ 23463–79.

Спектральные угли ОСЧ-7−3.

Электроды, выточенные из спектральных углей ОСЧ-7−3, диаметром 6 мм, с кратером диаметром 4 мм и глубиной 6 мм.

Фасонные графитовые электроды для спектрального анализа ОСЧ-7−4 диаметром 6 мм, заточенные на конус.

Колба Бунзена.

Кварцевые стаканы вместимостью 100 см.

Колонки из порошкового фторопласта: 3,5 г порошкового фторопласта (фракция менее 0,1 мм) помещают в фильтрующие воронки с фильтрами из спекшегося стеклянного порошка класса ПОР 160 или ПОР 40, диаметр фильтра 20 мм, уплотняют до высоты фторопластового слоя 15 мм.

Цилиндры с боковым отводом вместимостью 30 см.

Вода — бидистиллят или деионизованная, удельное электрическое сопротивление 20−24 MΩ·см.

Кислота соляная особой чистоты по ГОСТ 14261–77, разбавленная 1:1 и 1:10.

Водный раствор аммиака по ГОСТ 24147–80, особой чистоты, разбавленный 1:10.

Натрия N,N'-диэтилдитиокарбамат по ГОСТ 8864–71, растворы с концентрациями 20 и 1 г/дм.

Натрия меркантохинолинат (тиооксинат) — свежеприготовленный раствор с концентрацией 5 г/дм.

Ацетон особой чистоты.

Кварцевые чашки вместимостью 20−30 см.

Натрия хлорид — особой чистоты, марки 6−2.

Этиловый спирт ректификованный технический по ГОСТ 18300–87, перегнанный дважды в кварцевом приборе.

Окись ванадия (V), ч.д.а.

Окись железа, ч.д.а.

Закись-окись кобальта по ГОСТ 4467–79, ч.д.а.

Безводная окись марганца (IV), особой чистоты марки 9−2.

Окись меди по ГОСТ 16539–79, порошкообразная.

Окись никеля по ГОСТ 4331–78, ч.

Разд.6. (Измененная редакция, Изм. N 2).

7. ПОДГОТОВКА К АНАЛИЗУ

7.1. Приготовление образцов сравнения

(번역)

от 2·10% до 1·10%.

(수정판, 개정 N 2).

6. 기기, 시약 및 용액

회절 분광기 ДФС-8, 격자 600줄/мм, 삼중렌즈 조명 시스템 또는 이와 동등한 장비.

아크 발생기 ДГ-2(추가 레오스타트 포함) 또는 이와 동등한 장비로, 고주파 방전으로 직류 아크 점화가 가능하도록 조정된 것.

정류기 250−300 V, 30−50 A.

스펙트로프로젝터 ПС-18 또는 동등 장비.

비기록형 마이크로포토미터 МФ-2형 또는 동등 장비.

유기유리(아크릴) 박스.

분석저울 АДВ-200형.

토션 저울 ВТ-500형.

적외선 램프 ИКЗ-500, 전류·전압 조절기 РНО-250−0,5형 또는 동등 제품.

전기 히터판.

전극 연마기.

Фторопласт-4(불소수지) 또는 유기유리 재질의 절구.

사진 플레이트 ЭС형.

특급 순도의 분말 흑연(ГОСТ 23463–79 준수).

스펙트럼용 탄극 ОСЧ-7−3.

ОСЧ-7−3 스펙트럼 탄극에서 가공한 전극: 직경 6 mm, 분화구(크레이터) 직경 4 mm, 깊이 6 mm.

스펙트럼 분석용 성형 흑연 전극 ОСЧ-7−4, 직경 6 mm, 원뿔형으로 연마된 것.

분젠 플라스크.

용량 100 см의 석영 비커.

분말형 фторопласт 컬럼: 분말 фторопласт 3.5 g(입자 크기 < 0.1 mm)을 필터링 깔때기에 넣고, 필터는 스펙형 유리분말 필터(POR 160 또는 POR 40), 필터 직경 20 mm 사용, фторопласт층 높이 15 mm가 되도록 압실.

측면 출구가 있는 실린더, 용량 30 см.

이중증류수 또는 이온 제거수, 비저항 20−24 MΩ·cm.

염산(특급 순도) ГОСТ 14261–77에 따라, 희석비 1:1 및 1:10.

수용성 암모니아(ГОСТ 24147–80), 특급, 희석 1:10.

나트륨 N,N'-디에틸디티오카르바메이트(ГОСТ 8864–71), 농도 20 및 1 g/дм 용액.

나트륨 머캔토키놀린산염(티오옥시네이트) — 신선히 조제한 5 g/дм 용액.

특급 순도의 아세톤.

석영 컵, 용량 20−30 см.

염화나트륨, 특급 순도, 등급 6−2.

정제한 에틸 알코올(기술용) ГОСТ 18300–87, 석영 장치에서 2회 증류한 것.

바나듐(V) 산화물, 분석용(ч.д.а.).

철 산화물, 분석용(ч.д.а.).

코발트의 산화물(закись-окись) по ГОСТ 4467–79, 분석용(ч.д.а.).

무수 망간(IV) 산화물, 특급 순도 등급 9−2.

구리 산화물(ГОСТ 16539–79), 분말형.

니켈 산화물(ГОСТ 4331–78), 정제품(ч.).

Разд.6. (수정판, 개정 N 2).

7. 분석 준비

7.1. 비교 표준(시료) 제조

Головной образец на основе графита порошкового (ГОГП), содержащий по 1% каждой из определяемых примесей, готовят следующим образом: навески массой 0,0178 г окиси ванадия (V), 0,0143 г окиси железа, 0,0137 г закись-окиси кобальта, 0,0158 г марганца (IV) окиси безводной, 0,0125 г порошкообразной окиси меди, 0,0141 г окиси никеля помещают в ступку из фторпласта-4 или органического стекла и добавляют 0,9118 г порошкового графита. Смесь тщательно перетирают при добавлении этилового спирта в течение 50 мин и высушивают под инфракрасной лампой. Во избежание внесения загрязнений перетирание в ступке и высушивание под инфракрасной лампой проводят в боксе из органического стекла.

Образцы сравнения ОС 1-ОС 8 готовят последовательным разбавлением ГОГП, а затем каждого последующего образца порошковым графитом.

Массовая доля каждой из определяемых примесей в образцах ОС 1-ОС 8 и вводимые в смесь навески порошкового графита и предыдущего образца приведены в табл.4.

Таблица 4

Обозначение образца	Массовая доля каждой из определяемых примесей, %	Масса навески, г
		порошкового графита	предыдущего образца
ОС 1	1·10	1,800	0,200 (ГОГП)
ОС 2	3·10	1,400	0,600 (ОС 1)
ОС 3	1·10	1,333	0,667 (ОС 2)
ОС 4	3·10	1,400	0,600 (ОС 3)
ОС 5	1·10	1,333	0,667 (ОС 4)
ОС 6	3·10	1,400	0,600 (ОС 5)
ОС 7	1·10	1,330	0,667 (ОС 6)
ОС 8	3·10	1,403	0,600 (ОС 7)

Указанные в табл.4 навески порошкового графита предыдущего образца помещают в ступку, тщательно перетирают при добавлении этилового спирта в течение 30 мин и высушивают под инфракрасной лампой.

Перетирание в ступке и высушивание под инфракрасной лампой проводят в боксе из органического стекла.

(Измененная редакция, Изм. N 2).

8. ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА

8.1. Концентрирование примесей

Навеску анализируемой окиси РЗЭ массой 0,5−5 г или соответствующее количество металла помещают в кварцевый стакан вместимостью 100 сми растворяют в 2−20 смсоляной кислоты, разбавленной 1:1, при нагревании, стакан при этом закрывают часовым стеклом. Удаляют часовое стекло, упаривают раствор до влажных солей, остаток растворяют в ~50 смводы. Раствором аммиака, разбавленным 1:10, или соляной кислотой, разбавленной 1:10, устанавливают рН ~2 (по универсальной индикаторной бумаге).

К полученному раствору приливают 2,5 смраствора N, N'-диэтилдитиокарбамата натрия с концентрацией 20 г/дми 2 смраствора тиооксината натрия. При этом должно установиться значение рН=5,5−6 (контроль по универсальной индикаторной бумаге). Раствор фильтруют через фторопластовую колонку, установленную в колбе Бунзена, при разрежении, создаваемом водоструйным насосом.

Затем колонку промывают 30−60 смраствора N, N'-диэтилдитиокарбамата натрия с концентрацией 1 г/дмпорциями по 5 сми устанавливают ее в цилиндре с боковым отводом. Через колонку пропускают 15 смацетона при разрежении, создаваемом водоструйным насосом. Элюат, содержащий концентрат примесей, переносят в кварцевую чашку, упаривают на водяной бане до объема ~2−3 см, прибавляют 50 мг порошкового графита и упаривают досуха.

Анализ каждой пробы проводят из трех параллельных навесок. Одновременно с каждой партией анализов проводят через все стадии анализа три контрольных опыта на реактивы, получая три сухих остатка — концентрата.

(Измененная редакция, Изм.

N 2).

8.2. Спектральный анализ концентратов

К каждому концентрату, полученному из проб, контрольных опытов и к 50 мг каждого из образцов сравнения ОС 1-ОС 8 добавляют по 2 мг хлористого натрия и перемешивают. Каждую смесь помещают в кратер электрода (анод) диаметром 4 мм и глубиной 6 мм. Верхний электрод, заточенный на конус, служит катодом, между электродами зажигают дугу постоянного тока силой 15 А. Расстояние между электродами — 3 мм. Спектры фотографируют на спектрографе ДФС-8 с решеткой 600 штр/мм (в первом порядке), используя фотопластинки Э. С. Ширина щели спектрографа — 15 мкм, время экспозиции — 45 с. Промежуточную диафрагму в трехлинзовом конденсоре подбирают так, чтобы почернения фона вблизи аналитических линий находились в области нормальных почернений.

В одинаковых условиях фотографируют по три раза спектры концентратов анализируемых проб, по три раза спектры концентратов, полученных из контрольных опытов, и по два раза спектры каждого образца сравнения.

Экспонированные пластинки проявляют, промывают водой, фиксируют, промывают в проточной воде в течение 15 мин и сушат.

8.3. Регенерирование колонки

После выделения концентрата примесей колонку из фторпласта-4 устанавливают в колбе Бунзена и промывают шесть раз соляной кислотой (1:1) порциями по 5 см, а затем через нее пропускают 50 смдистиллированной воды. После этого колонка готова к употреблению.

9. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

9.1. В каждой спектрограмме фотометрируют почернения аналитической линии определяемого элемента (см. табл.5) и близлежащего фона и вычисляют разность почернений . По двум параллельным значениям и находят среднеарифметическое значение . Градуировочный график строят в координатах (), используя значения для образца сравнения. Используя значения для концентратов анализируемой пробы и концентратов контрольных опытов, по градуировочному графику находят средние значения массовой доли определяемой примеси.

Таблица 5

Основа	Определяемый элемент	Длина волны аналитической линии, нм
Окиси лантана, иттрия, самария, европия, тербия, гольмия, тулия, иттербия и лютеция	Ванадий	318,4
	Железо	248,3
	Кобальт	252,1 282,1
	Марганец	257,6
	Медь	327,4
	Никель	300,3 305,1
Окиси празеодима и неодима	Ванадий	318,4
	Железо	259,8
	Кобальт	252,1 304,4
	Марганец	257,6 280,1
	Медь	327,4
	Никель	300,3 305,1
Окись гадолиния	Ванадий	318,4
	Железо	248,3
	Кобальт	252,1 304,4
	Марганец	257,6 280,1
	Медь	327,4 282,4
	Никель	305,1 303,7
Окись диспрозия	Ванадий	318,4
	Железо	272,1
	Кобальт	252,1 304,4
	Марганец	257,6 279,5
	Медь	327,4
	Никель	305,1 303,7 301,2
Окись эрбия	Ванадий	318,4
	Железо	248,3
	Кобальт	252,1 304,4
	Марганец	280,1
	Медь	324,7
	Никель	301,2

(Измененная редакция, Изм. N 2).

9.2. Массовую долю определяемой примеси () в процентах вычисляют по формуле

,

где  — масса навески графитового порошка-коллектора, мг;

 — масса навески пробы, мг;

 — среднее значение массовой доли определяемой примеси в концентратах анализируемой пробы, %;

 — среднее значение массовой доли определяемой примеси в концентратах контрольного опыта, %.

9.3. Расхождения результатов трех параллельных определений (отношение наибольшего из них к наименьшему), а также расхождение результатов двух анализов (отношение большего из них к меньшему) не должны превышать значений допускаемых расхождений, приведенных в табл.6.

Таблица 6

Определяемый элемент	Массовая доля, %	Допускаемое расхождение
Ванадий	3·10	3,3
	5·10	3,1
	5·10	2,9
Железо	3·10	3,5
	6·10	3,1
	2·10	3,0
Кобальт	3·10	3,0
	2·10	2,7
	1·10	2,2
Марганец	1·10	2,9
	1·10	2,4
	1·10	2,0
Медь	2·10	3,5
	1·10	3,2
	1·10	3,0
Никель	1·10	3,3
	1·10	2,8
	1·10	2,6

(Измененная редакция, Изм. N 2).