ГОСТ 16321.2-70

ГОСТ 16321.2−70 은-구리 합금. 분광 분석 방법 (변경 N 1, 2 포함)

ГОСТ 16321.2−70*

그룹 B59

소비에트 사회주의 공화국 연합 국가 표준

은-구리 합금

분광 분석 방법

Silver-copper alloys. Method of spectral analysis

ОКСТУ 1709

도입 날짜 1972−01−01

소비에트 사회주의 공화국 연합 표준, 측정기 및 기기 위원회의 결정으로, 1970년 8월 26일 N 1328에 따라, 1972년 1월 1일부터 도입

1985년 검토됨. 1985년 2월 26일 N 383의 Gosstandart 결정에 따라 사용 기간이 1991년 1월 1일까지 연장됨**
_______________
** 사용 기간의 제한은 1994년 표준화, 측정 및 인증에 관한 유라시아 상임위원회의 프로토콜 N 5-94에 의해 해제됨 (ИУС N 11/12, 1994년). — 데이터베이스 작성자의 주석.

ГОСТ 7979–56의 IV-VIII장을 대체.

* 1986년 7월 개정판, 1980년 8월과 1985년 2월 변경 N 1, 2 포함 (ИУС 10−80, 5−85).


본 표준은 은-구리 합금에 적용되며, 비스무트, 안티모니, 납 및 철의 분광학적 분석 방법을 규정합니다 (비스무트, 안티모니 및 납의 질량 비율 0.001에서 0.01% 및 철 0.005에서 0.25%).

분석 방법은 아크 스펙트럼에서 불순물 선의 강도를 측정하는 데 기반합니다. 불순물의 질량 비율에 대한 정량적 평가는 세 가지 기준점을 사용하는 방법으로 수행됩니다. 전극으로는 분석할 합금의 막대를 사용합니다.

이 방법의 적용은 제품의 기술 요구 사항을 설정하는 표준 및 기술 조건에 명시되어 있습니다.

1. 일반 요구 사항

1.1 분석 방법에 대한 일반 요구 사항은 ГОСТ 22864–83에 따름.

2. 장비, 시약 및 용액

중간 분산의 석영 스펙트로그래프.

교류 아크 발생기.

마이크로포토미터.

수냉 전극 클램프.

スペクトル 프레이트 타입 II, 감도 10−15 의 조건.

표준 기업 샘플.

현상제 및 고정제는 ГОСТ 10691.0−84, ГОСТ 10691.1−84에 따름.

3. 분석 준비

샘플 및 표준 샘플은 직경 6 mm, 길이 20-30 mm의 두 개의 주조 막대 형태여야 합니다. 막대는 양 끝을 지름 1.5-1.7 mm의 반구형 또는 절단된 원뿔형으로 연삭합니다.

표면 오염물 제거를 위해 샘플을 컵에 넣고 1:1 희석 염산으로 덮고 2분 동안 끓인 후 물로 씻고 건조합니다.

(수정된 버전, 변동 N 2).

4. 분석 수행

스펙트럼 촬영은 스펙트로그래프의 슬릿 폭 0.015 mm, 전극 간 거리 1.5 mm, 아크 전류 5 A, 예열 시간 30초, 노출 시간 45초에서 수행됩니다. 전극 간 간격은 템플릿에 의해 설정됩니다. 주조 막대가 전극으로 사용됩니다. 샘플과 함께 동일한 스펙트럴 플레이트에 분석하려는 합금의 표준 샘플 스펙트럼을 촬영합니다.

각 샘플 및 표준 샘플에 대해 네 개의 병렬 스펙트럼을 얻습니다.

스펙트라 플레이트는 18−20 °C에서 3분간 현상합니다. 현상된 스펙트라 플레이트는 물에 헹구고 고정하고 흐르는 물에 세척한 후 건조하여 포토메트리합니다.

(수정된 버전, 변동 N 2).

5. 분석 결과 계산

분석에 추천되는 분석 선, 검출 가능한 불순물의 질량 비율 범위는 표에 제시되어 있습니다.

모든 불순물의 경우 비교 요소는 연속 스펙트럼 배경입니다. 배경의 비율은 정상적인 변색 영역에 있어야 합니다.

불순물의 질량 비율은 객관적인 포토메터링을 통해 세 가지 기준점을 사용하여 결정됩니다. 분석하려는 각 요소에 대한 보정 그래프를 작성합니다. y축에는 불순물 선과 배경의 상대 강도 로그 값이, x축에는 표준 샘플 농도의 로그 값이 기록됩니다.

보정 그래프를 사용하여 알려진 상대 강도 로그 값에 따라 분석 샘플의 불순물 질량 비율을 결정합니다.

병렬 결정의 결과 일치는 상대 표준 편차가 0.20로 특징지어집니다.

(수정된 버전, 변동 N 2).